COG制程过程因TFT基板上各薄膜材料热膨胀系数-触摸屏与OLED网.PPTVIP

MIS BM TFT-LCD General Defect Introduction 引言 本講義內容均為群創光電這幾年碰到關於LCD模組異常現象的真實案例.將此機密資料介紹給各位,希望對大家在工作上有所幫助…. 群創光電 面板策略採購 面板工程 陳丕夫 大 綱 Major Defect—Line Defect Line Defect—導電異物形成短路 Line Defect—IC Bonding異常 COG Bonding Line Defect—IC Function 異常 Line Defect—Array線路open Line Defect—其他… Major Defect-No Display No Display (無畫面)大致可區分為黑屏與白屏. 黑屏代表BLU (Back light unit)並未正常點亮,最常見的原因多與BLU有關. 白屏則為BLU已正常點亮但輸入面板的訊號異常,導致面板無法正常工作,最常見的原因與模組PCBA有關. No(Black) Display—與背光源強相關 No (white) Display—與模組PCBA強相關 Major Defect—Abnormal Display Abnormal Display(畫面異常)的現象非常多種,產生原因多與signal process有關. 常見原因: 1). IC Function 異常 2). IC Bonding 異常 3). Connector 接觸不良 4). 線路短路…… Abnormal Display—IC Function異常 Abnormal Display—TAB(IC) bonding Shift Abnormal Display—LVDS Connector 異常 Abnormal Display—PCB Bonding線路短路 Abnormal Display—VR壞損 Abnormal Display—其他… Minor Defect—Dot Defect Dot Defect (點缺陷)為最常接觸到的面板缺陷,一般區分為亮點與暗點. 除了因模組表面刮傷或異物所形成點缺陷外,其他90%均與面板(Cell)內部缺陷有關. 常見原因: TFT元件特性異常 Cell內導電異物造成短路 Dot Defect—TFT device issue Dot Defect—異物造成短路 Minor Defect--Mura Panel Active Area 局部區域亮暗程度不均. Mura分布區域,形狀不固定. 常見原因: TFT-Array: 黃光或蝕刻或相關製程造成之 局部漏光現象 Cell : PI printing或Rubbing 製程異常 Module: LGP 網點硬刷異常 Other: 外力造成PI 受傷, 液晶配比異常…. Minor Defect--Mura Minor Defect--Mura Minor Defect--BLU異物 Minor Defect--Noise/雜訊干擾 附錄 1: 模組信賴性測試 附錄 ２:Defect List Table InnoLux Confidential InnoLux Confidential Sep. 08， 2006 TFT-LCD Defect 分類 ?Major Defect line, No display, Half-display, abnormal display, Glass broken, up/down revise fail…. ? Minor Defect dot defect, mura, color non-uniform, light leakage, scratch/bubble, particle… 現象: 在顯示區域出現整條或線段狀之 亮/暗線. 常見原因: 1).導電異物導致線路短路 2). IC Bonding Issue 3). IC Function異常 4). Others (ACF異常,線路open..) 水平雙亮線 金屬異物造成Gate側COF線路短路 異物成分分析 金屬異物造成相鄰兩gate line短路, gate line coupling的結果形成雙亮線. 金屬異