电子科技大学-半导体物理-答案参考.docVIP

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  • 2018-07-12 发布于浙江
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半导体中的电子状态习题 什么叫本征激发?温度越高,本征激发的载流子越多,为什么?试定性说明之。试定性说明Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数的原因。1-3、试指出空穴的主要特征。1-4、简述Ge、Si和GaAS的能带结构的主要特征。1-5、某一维晶体的电子能带为其中E0=3eV,晶格常数a=5х10-11m。求:能带宽度;能带底和能带顶的有效质量。题解: 解:在一定温度下,价带电子获得足够的能量(≥Eg)被激发到导带成为导电电子的过程就是本征激发。其结果是在半导体中出现成对的电子-空穴对。如果温度升高,则禁带宽度变窄,跃迁所需的能量变小,将会有更多的电子被激发到导带中。解:电子的共有化运动导致孤立原子的能级形成能带,即允带和禁带。温度升高,则电子的共有化运动加剧,导致允带进一步分裂、变宽;允带变宽,则导致允带与允带之间的禁带相对变窄。反之,温度降低,将导致禁带变宽。因此,Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数。解:空穴是未被电子占据的空量子态,被用来描述半满带中的大量电子的集体运动状态,是准粒子。主要特征如下:A、荷正电:+q;B、空穴浓度表示为p(电子浓度表示为n);C、EP=-EnD、mP*=-mn*。解:? Ge、Si: a)Eg (Si:0K) = 1.21eV;Eg (Ge:0K) = 1.170eV; b)间接能隙结构c)禁带宽度Eg随温度增加而减小; (2)??

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