其它显微方法简介.ppt

原子探针 原子探针可以用来鉴定样品表面单个原子的元素类别，其工作原理如下图所示。 首先，在低于Ee的成像条件下获得样品表面的场离子图像，通过观察窗监视样品位向的调节，使欲分析的某一原子像点对准荧光屏的小孔，它可以是偏析的溶质原子或细小沉淀物相等。当样品被加上一个高于蒸发场强的脉冲高压时，该原子的离子可被蒸发而穿过小孔到达飞行管道的终端而被高灵敏度的离子检测器所检测。 若离子的价数为n，质量为M，则其动能为 其中U为脉冲高压。可见，离子的飞行速度取决于离子的质量，如果测得其飞行时间，而样品到检测器的距离为S(通常长达1~2米)，则有 由此，可以计算离子的质量M，从而达到原子分辨水平的化学成分分析的目的。 场离子显微镜的应用 场离子显微镜技术的主要优点在于表面原子的直接成像．通常只有其中约10％左右的台阶边缘原子给出像亮点；在某些理想情况下，台阶平面的原子也能成像，但衬度较差。对于单晶样品，图像的晶体学位向特征是十分明显的，台阶平面或极点的指数化纯粹是简单的几何方法。 由于参与成像的原子数量有限，实际分析体积仅约10-21m3，因而场离子显微镜只能研究在大块样品内分布均匀和密度较高的结构细节，否则观察到某一现象的几率有限。如，若位错的密度为108cm-2，则在10-10cm2的成像表面内将难以被发现。对于结合键强度或熔点较低的材料，由于蒸发场强太低，不易获得稳定的图像；多元合金的图像