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半導體專題實驗 實驗三 Van Der Pauw量測與霍爾效應 實驗目的 利用 Van Der Pauw 四點探針法和霍爾效應 (Hall effect)，量測半導體中多數載子濃度與遷移率μ (mobility) 。 The Van Der Pauw Method Original paper by L. J. van der Pauw in 1958 /~gsteele/vanderpauw/vanderpauw.pdf 19世紀 以I/V的關係測量電阻 發現電阻值不只和物質相關也和其形狀相關 20世紀初 發現是carrier density (n) 和 mobility (μ) 決定物質的導電情形而不是電阻率 霍爾效應 (Hall Effect) Edwin H. Hall 於1879年發現在帶電流的薄金屬片上加磁場時會出現一反向電壓 霍爾效應是電場和磁場在移動中的電荷上所施力的結果。 此效應用來分辨一個半導體是N型還是P型並且可測量到majority carrier的concentration和mobility。 霍爾效應有時也被廣泛用在electric probe等其他電路應用上。 霍爾效應 (Hall Effect) 霍爾效應 (Hall Effect) For p-type: Remember, Hall effect is used to measure