[讲稿]x射线粉末衍射实验技术基础.docVIP

X射线粉末衍射实验技术基础 《Ｘ射线粉末衍射实验技术基础》 江超华 北京大学 （宋友桂摘自微构实验室/ziliao/index.asp，重新编辑 2007.06. 23 ） 目录 前言 第一章 X 射线衍射基础 1.1 概述 1.2 X 射线的产生 1.3 X 射线管工作条件的确定 1.4 X 射线光谱 1.4.1 连续光谱 1.4.2 特征光谱 1.5 物质对X 射线的吸收，实验波长及滤波片的选择 1.5.1 线吸收系数 1.5.2 质量吸收系数 1.5.3 吸收系数与波长及元素的关系 1.5.4 实验波长的选择 1.5.5 滤波片 1.6 晶体对X 射线的衍射 1.6.1 衍射几何方程 1.6.2 多晶X 射线的衍射强度 1.7 X 射线的检测 1.7.1 荧光板 1.7.2 照相方法 1.7.3 正比计数管 1.7.4 闪烁计数管 1.7.5 固体检测器 1.7.6 位敏正比计数管 1.7.7 成像屏 1.7.8 X 射线电视 1.8 X 射线的防护 第二章 多晶X 射线衍射仪器 2.1 概述 2.2 两种衍射几何 2.2.1 平行光束型 2.2.2 聚焦光束型 2.3 两类X 射线测量记录方法 2.3.1 照相法 1 2.3.2 衍射仪法 2.4 X 射线源 2.5 几种常用粉末X 射线衍射实验技术的比较 第三章 MSAL 自动X 射线衍射仪 3.1 概述 3.2 X 射线发生器 3.2.1 X 射线管 3.2.2 高压发生器及其控制电路 3.2.3 保护电路 3.3 测角仪的光路系统 3.4 X 射线强度测量记录系统 3.4.1 X 射线检测器 3.4.2 脉冲幅度分析器 3.4.3 计数率表 3.5 衍射仪控制及衍射数据采集分析系统 3.5.1 衍射仪控制操作系统 3.5.2 衍射数据处理分析系统 3.5.3 各种X 射线衍射分析应用程序（选购） 第四章 多晶X 射线衍射仪实验技术 4.1 仪器条件的准备 4.1.1 X 射线光源条件 4.1.2 测角仪的校正（“对零”） 4.1.3 X 射线强度测量记录系统的调整 4.2 具体实验条件的选定 4.2.1 发散狭缝 4.2.2 接收狭缝 4.2.3 防散射狭缝 4.2.4 扫描方式 4.2.5 长图记录仪记录条件的选择 4.2.6 数字记录时采样条件的选择 4.3 样品的制备 4.3.1 对样品粉末粒度的要求 4.3.2 关于样品试片平面的准备 4.3.3 关于样品试片的厚度 4.3.4 制样技巧 4.4 原始数据的初步处理 2 4.4.1 图谱的平滑 4.4.2 背底的扣除和弱峰的辨认 4.4.3 峰位的确定 4.4.4 衍射强度I