GB/T 14028-2018半导体集成电路　模拟开关测试方法.pdf

ICS31.200 L56 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT14028 2018 代替 / — GBT14028 1992 半导体集成电路 模拟开关测试方法 — Semiconductorinteratedcircuits g Measurin methodofanaloueswitch g g 2018-03-15发布 2018-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 / — GBT14028 2018 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅰ 1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1 2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1 4 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 2 4.1 测试环境要求 ……………………………………………………………………………………… 2 4.2 测试注意事项 ……………………………………………………………………………………… 3 4.3 电参数符号 ………………………………………………………………………………………… 3 5 参数测试 ………………………………………………………………………………………………… 4 模拟电压工作范围( )…………………………………………………………………………… 5.1 VA 4 导通电阻( )……………………………………………………………………………………… 5.2 Ron 5 导通电阻路差( )……………………………………………………………………………… 5.3 ΔRon 6 截止态漏极漏电流[ ]………………………………………………………………………… 5.4 I( ) 6 Doff 截止态源极漏电流[ ]…………………………………………………………………………