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基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计论文
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摘 要
集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字：测试仪；数字集成电路；单片机
ABSTRACT
Integrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.
The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button, 74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components, etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14 feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.
Keywords: tester; digital integrated circuit; microprocessor control unit
目录
系统总体方案…………………………………………………………………………..1
2 系统硬件电路设计……………………………………………………………2
2.1 硬件系统电路原理框图…………………………………………………………...2
2.2硬件系统电路各模块设计…………………………………………………………2
2.2.1 MCS-52单片机最小系统……………………………………………………2
2.2.2 独立按键模块………………………………………………………3
2.2.3 芯片测试模块……………………………………………………………4
2.2.4 显示模块………………………………………………………5
2.2.5 电源供电模块…………………………………………………………7
3 系统软件设计……………………………………………………………………8
3.1 测试对象TTL74系列芯片简介……………………………………………………8
3.2 测试原理………………………………………………………………………8
3.3 程序流程图……………………………………………………………………9
3.4 模块程序关键代码……………………………………………………………11
3.4.1 主程序………………………………………………………………………11
3.4.2 独立按键扫描程序…………………………………………………………11
3.4.3 74HC573控制数码管显示程序…………………………………………….15
3.4.4 信号检测程序………………………………………………………………17
4 系统仿真测试……………………………………………………………………19
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