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开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容 屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修 根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分：1、过压击穿2、过流击穿 根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分： 行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，如果CE 阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，电脑维修培训，在烧毁之前 需要有一定的时间积累。 如果CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外突然 烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没 有问题但没有规律某次开机时突然烧行管。 行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法： 行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法： 1 、电流监测法 检测点：在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供 电调整管滤波电容处，行包初级线圈后。 2、电压测量法 显示器的行激励供电因为显示器设计不同，，有取自+12V，+45V，+80V等几 种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 如果不好找对应型号，可以考虑直接使用IRF630，在代换行激励管后，最 好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。 3、波形检测对比法 行场IC的HOUT端，行激励管的C极，行激励变压器的34脚，行管的B 极，行管的C极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，如果某点 VPP值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。如果某点 的 的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅 速定位故障点，找出故障原因。 4、温度测量法 主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两 70度以下，基本都可以使用。注意测 个小时以上，行管的温度不上升，保持在 量时，笔记本维修培训，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量 时要注意与实际使用环境温度相当。 5、元件替换排除法 对于判断行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管(三代，四代，五代) 的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。 行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类： 行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类： 1、开关电源输出电压偏高 由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致B+电压上升。如果B+电压超 过10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器 和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许的稳压值 范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 2、二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B+的电压是慢慢升 高，而不是开机后直接跳为高电压，电脑维修培训学校。如果缓启动电容失容损坏，就会造成开机时 1 徐州市菲克斯科技有限公司QQ： TANK 电压立即跳升，同时电压不稳，容易造成烧行管。 还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异 常。 3、行偏转线圈或行输出变压器局部短路 行偏转线圈奁行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短 路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号正常机器相比 较，通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散 热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击 穿。 4 、行频过低 因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低， 周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的 电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于 偏低状态。显示器的行频是由MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产 生，一般不会出现行频过低现象。 5、行逆程时间过短 在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出 管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开 路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，主板维修培训，就会出现行管换一只烧一只 的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是 因为逆程电容开路而引起的过压击穿。 解决方法：是将行逆程电容全部换新。 6、行激励不足 如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性 变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流 过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦 超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则