核分析的技术-XRF.pptxVIP

核分析基础 成都理工大学 核自学院 X射线荧光分析 从1895年伦琴(Roentegn)发现X射线以来，对X射线的产生、它的特性，它与物质的相互作用，以及它的应用，进行了极为广泛深入的研究。 X射线激发元素时发射特征X射线的发现，奠定了X荧光光谱作为元素成分分析的基础，它早已成为实验室和工矿企业中元素分析的常规分析手段。 X射线荧光分析 随着激发源和探测技术的研究进展，X射线分析已经从原有的用X光管、放射源激发的K层荧光分析，发展到70年代开始用带电粒子激发的X射线分析，最近又发展了同步辐射X荧光分析；从用晶体和正比计数器等测量X射线，发展到用半导体探测器测量X射线。 X射线荧光分析 质子激发的X射线分析已成为一种高灵敏度，非破坏性、多元素定量分析的重要工具，在生物医学、环境保护、考古学等许多研究领域中非常有用。 微束技术的发展，已能使用直径达到微米级的质子束进行扫描分析，得到样品中元素的空间分布，甚至可以窥测一个细胞中诸元素的分布。 X射线荧光分析 电子排布及能态的量子描述 符号 名称 意义 允许值 选择定则 n 主量子数 表示电子层和电子的能量 1, 2, 3, … , n K, L, M,… Δn0 l 角量子数 表示轨道角动量，决定轨道形状 0, 1, 2, … , n-1 s, p, d, … Δl=±1 m 磁量子数 角动量在磁场方向上的投影，表示轨道方位 -1…