设计用于测试电子跟机电装置的开关系统.docVIP

设计用于测试电子或机电装置的开关系统，就像 设计那些装置本身一样，会存在许多问题。现代测试系 统有许多用于激励或测量 DUT 的信号线和电源线，以 及用于自动连接的各种开关。因此在一个多点开关系 统中，激励、电源和其它信号的交互作用可能会产生对 测量的噪声和干扰。 　　噪声问题只有三个组成部分。噪声问题必然存在 一个噪声源，它耦合至对噪声敏感的接收器。为解决噪 声问题，首先要确定噪声源，然后要确定噪声接收点， 最后是确定噪声的耦合方法。这并非神秘莫测的过程， 而是有需可靠遵循的物理规则。有时源和耦合方法可 能非常微妙，但绝不会违反基本规则。 　　通常，工程师会在设计一个系统至另一系统的信 号路径上花大量精力，但往往忽视返回路径。正确设计 的系统应有经定义的信号路径和返回路径，需要用这 两者建立工作系统。如果在设计中忽略返回路径，跟踪 噪声问题的任务将是极为困难的。返回路径的不良设 计可能改变系统其它部分。改变的返回路径可能表现 为间歇性的问题，出现难以理解的有害噪声。 　　图 1 示出通用的测试系统体系结构。开关是整个 系统的中心，它把许多测试点接到测量仪器，提供信号 路由和为 DUT 加电。但它也是许多，有时是无法说明 的测量误差来源，相近的许多互连提供了噪声耦合的 大量机会。 　　需要测试装置中出现的较高速逻辑，它与更灵敏 的模拟电路一起，要求对开关系统作精心的设计和实 现，