吸收剂量的测量cfpzlrcn.ppt

射线质量 Cλ（水中） Cλ（组织中） 钴-60 0.95 0.94 4MV 0.94 0.94 8MV 0.93 0.92 12MV 0.92 0.91 16MV 0.91 0.90 20MV 0.90 0.89 30MV 0.89 0.87 不同物质在不同能量时的Cλ值 * 对高能电子束，水中吸收剂量计算的标准公式为： Dw=R·N·CE * 吸收剂量的测量实践（Cλ和CE方法） 准备工作 温度平衡：模体置于加速器室2小时 现场气压、温度和湿度数据的获取 仪器摆放：电缆、电池等 加速器准备：预热、10×10cm照射野 空气密度校正 DW=MU×NX×Cλ×KPT 测量深度校准 DW=MU×NX×Cλ×KPT×PDD * Cλ和CE方法的问题 空气照射量校准因子 模体中的吸收剂量有相当部分源于低能散射光子，且随深度和射野变化，不同于空气中校准时的情况，且校正困难； 等效材料的矛盾 Cλ 方法将电离室假定为水的等效材料，而 CE 法时又将电离室假定为空气的等效材料； 不同置换因子的应用矛盾 没有考虑辐射质和深度的影响。 * IAEA277号报告 电离辐射的测量结果在相当大的程度上受电离室的尺寸、结构、形状和材料的影响，而Cλ和CE方法由于当时对辐射理论认识的局限性，却又在相当大的程度上忽略了这些因素的影响，因而使这种方法存在着较大的误差。 80年代ICRU23 和24号报告对此做了一定的修正，但未解决根本问题。 IAEA 提出了有效测量点的概念，同时更加关注电离室尺寸、结构、形状和材料的影响。 * 修正系数Katt、Km随所用的电离室不同（主要是收集电极、壁材料不同）有所变化；因此，引进对特定电离室的修正就显得十分必要，尽管此项修正数据的来源部分基于理论计算，仍有有待完善之处。 事实上，在ICRU报告的Cλ计算公式中除W/e外的每一项都与特定的电离室有关，但ICRU报告在发布Cλ值时仅将其作为能量的函数列出。如果认为ICRU当时的做法是认为Cλ因电离室不同的变化不大，那么，随着现在用于放射治疗定标电离室的品种和材料的增加，这两项修正的乘积可以从0.950(EXRADIN 0.5 cm3)到0.990 (CAPINTEC 0.65 cm3 PR0.6C), 变化幅度达4%。 * 吸收剂量的测量实践（国标方法） JJG 589-2001 以 IAEA 277 号报告为引用文献 : Absorbed dose determination in photon and electron beams, An International code of Practice, Second Edition , IAEA Tech . Rer Ser . No . 277 , VIENNA 1997 * 术 语 组织体模比（Tissue-Phanton Ratio）TPR 辐射源到探测器的距离 （SCD）恒定，在与辐射轴垂直并包含探测器的平面上，以探测器为中心的照射野取以特定值，在模体不同中心轴上，探测器测得的吸收剂量与这个特定值的比值即为TPR，当这个特定值最大剂量深度时，即为TMR。 吸收剂量的测量实践（国标方法） * 术 语 r P Peff （电离室）有效测量点（The effective Piont of measurement（of an ionization chamber) ) 模体中有了电离室的空气空腔后，辐射的注量梯度将与无腔时的注量梯度不同，电离室测出的吸收剂量将不是电离室几何中心处的吸收剂量，而是有效测量处的吸收剂量。 吸收剂量的测量实践（国标方法） * 术 语 电离室剂量计（Dosemeter with ionization chamber) 以电离室为探测器的测量吸收剂量的仪器，通常由一个或几个电离室及平衡帽、测量单元和稳定性检验源组成。 吸收剂量的测量实践（国标方法） * 术 语 校准深度（Calibration Depth） 　　　在模体中进行吸收剂量校准测量时，探测器的有效测量点所在的深度。 校准因子（Calibration Factor） 　　　计量检定机构给出的剂量值与被检定剂量计对该剂量的显示值的比值。校准因子可以是吸收剂量（ND）、比释动能（NK）或照射量（NX）的校准因子。 吸收剂量的测量实践（国标方法） * 术语 极化效应（Polarity effect） 对相同的电离辐射，当电离室的极化电压大