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                (3)质量吸收系数与波长λ及原子序数Z的关系 		一般来说,当吸收物质一定时,X射线的波长愈长愈容易被吸收;当波长一定时,吸收体的原子序数愈高,X射线被吸收的愈多。实验表明,μm与波长(λ)、原子序数(Z)之间的关系如下: μm = K λ3 Z3   		K为常数,在不同的吸收限区间,k为恒定的值。如当λλk时( λk为K吸收限),K=0.007,当λλK时,K=0.0009。 * 由于K值不同,因此, μm呈台阶状跳跃。 Pt(Z=78)的μm随入射X射线波长的变化 (1)对一定元素而言,随着波长的增加,μm亦增加,但到某一界限,μm突然降低。此种情况出现数次。 μm呈台阶状跳跃。 * 对CuKα(λ=1.54178?)的μm随原子序数的变化 (2)对一定波长而言,随着原子序数的增加, μm亦增加,但到某一界限,μm突然降低。此种情况亦出现数次。μm呈台阶状跳跃。 * 		各元素突变时的波长值,称为该原子的吸收限或吸收边,对于X射线技术来讲,最重要的是第一个吸收边,即K吸收限(λk) 。 		为什么会产生吸收限? 		吸收限主要是由光电效应所引起,用光电效应可解释μm呈台阶状跳跃的原因。 * Pt(Z=78)的μm随入射X射线波长的变化   (1) 元素恒定,即原子核外电子的结合能恒定。 当λ入↘ ,则E入↗ ,当E入= EL时,则E入全部被电子吸收,产生光电效应和荧光辐射。表现为μm 突然↑ 。当λ入继续 ↘, E入↗ ,但不足以激发K层电子,则激发L层发生的光电效应和荧光辐射吸收的能量E吸不变,因此,相对地衰减↘ ,表现为吸收系数↘。当λ入继续↘ , E入↗ ,到E入= EK时,同理。 * μm = K λ3 Z3   对CuKα(λ=1.54178?)的μm随原子序数的变化   (2) λ恒定,即E入恒定。当Z ↘ ,原子核外电子的结合能E ↘ 。 当EZ1L=E入,同上可知μm 突然↑,当Z 继续↘ ,原子核外电子的结合能EZnL↘, 因此E入EZnL ,而同时E入EZmK时,激发L层的光电效应所需的能量↘,即X射线的衰减减弱,则μm ↘ ;当EZmK = E入,光电效应增强,K系被激发, μm 突然↑。 * μm = K λ3 Z3   	当沿同一方向的两条光路上存在μm = k λ3 Z3不同的两种物质时, μm和I均不相同。由此可进行生物体透视和工业生产中产品探伤研究。 * 4、X射线吸收效应的应用 	(1)吸收限的应用 	a.靶材的选择 	   在晶体X射线结构分析时,要求入射X射线尽可能减少激发试样荧光辐射,以降低衍射背底,使衍射图像或曲线清晰。因此,入射X射线的波长应略长于试样的吸收限λk。换言之,就是要求靶材的原子序数比试样的原子序数稍小或者大很多。这样,产生的入射X射线通过试样时不产生荧光辐射或荧光辐射影响很小,相对衍射背底也低的多,图像清晰。 * 靶材的选择: 		Z靶≤ Z样+1   或Z靶? Z样。 		如果试样中含有多种元素,应在含量较多的几种元素中以原子序数最轻的元素来选择靶材。     	注意:这种选择靶材的方法仅从减少荧光辐射的的方面考虑。实际中,靶材选择还要考虑其它因素。 * 	研究结构时所用的X射线波长范围为0.5?-2.5?,波长太长,易被吸收,波长太短,所得的衍射花样密集于小角度范围而不易分辨。因此选择靶材的一般原则是: ①必须得到较多的衍射线; ②必须避免衍射线互相重叠靠的太近; ③试样的吸收要小,即荧光辐射要小。 	另外,试样的晶体结构,对称性的高低对靶材的选择也必须考虑。如低对称的晶体,衍射线多而密,一般选软一点的入射X射线。  	 * 	常用的靶有Cu、Cr、Fe、Co、Mo、Ag,其中Cu靶用的最多,Cu的Kα波长为中等程度,对一般材料均是合适的波长。但对以下材料:Mn(25)、Fe(26)、Co(27)、Ni(28),在CuKa射线照射下,吸收比较大,即产生较多的荧光散射,因此对于含大量这些元素的物质,衍射效果不好。 	解决方法:换FeKa,波长1.9374A。 * b.滤波片 		K系特征谱线有两个:Kα、Kβ两条线,它们在晶体衍射中会产生两套衍射花样或衍射峰,使分析复杂化,因此,可选择一种合适的材料,使其吸收限λ刚好位于Kα与Kβ之间。将此材料制成薄片(滤波片),置于入射线束或衍射线束光路中,滤片将强烈吸收Kβ射线,这样,可得到基本单色的Kα射线,增强Kα的强度 。 *     例如对Cu靶产生的X射线,原始的特征线强度分布为        Iα1:Iα2:Iβ = 100:50:13.8        用Ni滤波片“过滤”后,强度分布为:         Iα:Iβ = 500 :1 * 吸收系数的应用--滤波片:  对原始X射线进行过滤,目的是滤掉β射线。 
                
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