ATE测试治具制作规格书 WIA026.docVIP

PAGE A A T E 测 试 治 具 规 格 书 文件编号：WI-A-02 文件编号：WI-A-026 版 本：A/0 序言 随着工业的发展为了能够更有效的提高生产效率，减轻员工劳动强度和作业难度，提高产品的品质，就需要一种“治具”来辅助作业了。 治具又分工装治具、检测治具两种，前者用于机械加工、焊接加工、装配等工艺便于加工、满足精度的需要而设计的一种工装夹具；后者为检测使用，因为有些机械尺寸不便于测量，其形状复杂，只好设计专门的检测块或者检测用的针对某一种产品而设计检具，比方塞规、环规等一些规则的检具，但有些是不规则的就必须专门设计一种检具来测量它的尺寸。 治具在控制方面已由前期机械控制进入机械和电气控制相结合的时代，治具也被越来越多的被设计成能够自动化控制，其科技含量也越来越高，对设计人员要求不但有机械方面的知识，同时也要有电控方面的知识。 治具在制作材料方面前期的木质、塑胶板材被合金、新型复合材料所取代，治具的机构日益简单灵活，便于操作。 治具在设计方面已由前期的二维图纸发展成三维立体图像，在治具制作前期就可以模拟治具的使用，为人体工程学分析做了基础，以此不断改进治具。 治具的标准化 治具零部件的标准化日益成熟，加快了治具产业的发展。工业设备标准化为治具标准化提供了有利的保证。 治具的类型已经多样化 ICT治具、SMT治具，功能治具、工装治具、工装夹具、贴合机、运送压合机、LCD显示幕贴膜机，压胶机，进水口切料机，测变型治具、按键贴膜治具、按键检测机具，探针检测治具，量测治具、吸盘印刷治具、气动压合点胶治具，自动排片机等等。 为了促进公司治具制作的标准化，特于2011年针对公司目前生产治具分大类制作治具制作规格书，通过治具制作规格书明确治具用途、原材料选择、制作流程、制作工艺、检验标准等。通过文件化的规范使公司治具的制作经验得以传承，好的方法得以推广。 由于本人经验有限文件制作过程中难免有错误请大家不吝赐教，万分感激。 谢谢! 目录： 定义 ………………………………………………………………… 1 范围 ………………………………………………………………… 1 内容 ………………………………………………………………… 1 权责 ………………………………………………………………… 2 制作规范 5.1 ………………………………………………………………… 3 5.2 ………………………………………………………………… 3 5.3 ………………………………………………………………… 4 5.4 ………………………………………………………………… 5 5.5 ………………………………………………………………… 5 5.6 ………………………………………………………………… 6 5.7 ………………………………………………………………… 7 PAGE 6 1、定义： ATE测试系统是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。 根据开发人员提供的测试程序来测试PCB线路板的优良程度，可测试缺件，错料，及一些电子元件的正反向，IC的功能状态引脚的冷焊，虚焊等 2、范围： ATE可分为以下几种类型：a.数字测试系统—— 共享资源测试系统,每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。如科利登的SC312和Quartet。b.线性器件测试系统——用来测试线性集成电路的测试系统。c.模拟测试系统——用来特性化测试集成电路的模拟功能。如科利登的ASL系列。d.存储器测试系统 － DRAM 测试系统,闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列,Agilent 的Versatest系列, Advantest的T5593。e.板测试系统 － 板测试是用来测试整块印制电路板,而不是针对单个集成电路。如泰瑞达的1800。f.混合信号测试系统——这种类型的系统资源用来测试集成电路的模拟及数字功能。 如科利登的Quartet系列。g.RF测试系统——用来测试射频集成电路的测试。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。h.SOC 测试系统——通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统,用来测试超大规模集成电路（VLSI）芯片;并且这种超大规模集成电路（VLSI）芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。如科利登的Octet系列, Agilent的9300