量测系统分析报告.PPTVIP

量測系統分析 課程 內容大綱 ~簡介 ~量測系統變異類別 ~量具再生性與再現性之分析 ~分析後的判斷 ~實例演練 簡 介 儀校 VS. 量測系統分析 簡 介 簡 介 量測系統之書面程序應包含 : 選擇量測項目之規格及執行測試的環境。 規定數據收集﹑記錄及分析的方式。 定義重要條件及原則之作業方法。 範例。 追溯之標準。 簡 介 量測設備管理規定應包含: 管理體系的建立(集中管理型或分散管理型)。 設備選購、保管、借出、歸還、校驗、修理、報廢等。 履歷卡。 簡 介 名詞定義 表示數據品質高低的統計特性，最常用的是： 準確度（Accuracy）是指量測數據平均值與標準值之間的差異； 精密度（Precision）是指量測數據本身的差異。 解析度：又稱靈敏度，是指量測儀器所能顯示的最小量測單位。 簡 介 何謂量測系統 ？ 1.量具 Gage 任何用來產生數據的設備或工具，包括GO / NO GO 治具。 2.量測系統 Measurement System 操作程序、操作環境、量具、軟體與人員等用以對量測品質特性數據之組合。 簡 介 量測系統概述 量測系統分析的目的主要是在所處的環境下求得該量測系統之變異，進而分析此變異的程度。分析時應注意下列事項： 量具之允收條件 量具間如何進行比對 單一量具在修理前與修理後之比較 長期之量具能力評估 量具之管制作業 簡 介 量測系統必須具備的統計特性 1.量測系統必須在統計管制下。 亦即量測系統之變異僅根源於“共同原因”（common causes）；非基於“特殊原因”（special causes）。 2.量測系統之變異性須相對小於製造時生產製程的變異性。 3.量測系統之變異性須相對小於產品規格界限。 簡 介 量測系統必須具備的統計特性 4.量測的最小刻度必須小於製程變異或規格界限較小的1/10 （即down一個degree）。 5.因量測項目的改變，量測系統的統計特性可能改變，但最大的（最壞的）量測系統變異必須小於製程變異或規格界限較小者。 量 測 系 統 的 變 異 量測系統的變異主要有六種： 1.偏差 Bias 2.再現性 Repeatability 3.再生性 Reproducibility 4.穩定性 Stability 5.線性 Linearity 6.零件變異 Part Variation 量 測 系 統 的 變 異 偏差 Bias 觀察值和參考值之間的差。亦即觀測的量測平均值與相同零件使用精密檢驗而得的標準平均值之差。 同一人使用同一量具量測同一零件之相同特性多次所得的平均值與真值(或參考值)之間的偏差值。 量 測 系 統 的 變 異 偏差 Bias 計算公式： 偏差 = 觀察平均值－真值 量 測 系 統 的 變 異 偏差 Bias 造成偏差相對大的可能原因： 1.主量測值錯誤 2.量具磨損 3.量具之製造尺寸錯誤 4.量具量測特性錯誤 5.量具未經適當校正 6.作業者不適當的使用量具 量 測 系 統 的 變 異 偏差 Bias 例題： 已知一零件真值為0.8mm，零件之製程變異為0.70mm。一作業者量測同一零件10次，量測值如下： X1 = 0.75 X2 = 0.75 X3 = 0.80 X4 = 0.80 X5 = 0.65 X6 = 0.80 X7 = 0.75 X8 = 0.75 X9 = 0.75 X10 = 0.70 其偏差為何？ 量 測 系 統 的 變 異 偏差 Bias 解答： VA = ? Xi / 10 = 0.75 VT = 0.8 則 Bias = VA - VT = - 0.05 ％ Bias = 100 ( | Bias | / 製程變異 ) ﹦100 （0.05 / 0.70） ﹦7.1％ 量 測 系 統 的 變 異 再現性 Repeatability 是指同一個量具由同ㄧ作業員對同一零件量測多次而得的量測值之變異；同時又可稱為量具變異（EV : Equipment Variation）。 量 測 系 統 的 變 異 再現性 Repeatability 量具再現性可由R管制圖呈現，當R管制圖失去管制時，通常表示量測程序之定值有問題。 公式為