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新时代离子迁移试验装置 新时代离子迁移试验装置 绝缘劣化评价装置 ECM-100 系列 绝缘劣化评价装置 ECM-100 系列 J-RAS 株式会社 可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。 从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的， 新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。 J-RAS 公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的， 新时代离子迁移实验装置 ECM-100 系列。 简介 ：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流 电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的 现象发生（ION MIGRATION）,并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF 试验，绝缘阻力电阻 试验，或者是OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING） 适用规格 ：JPCA-ET01-2001 １CHANNEL 完全独立计测 每个CH 的电压印加・高速16msec 计测回路 ALL-IN-ONE 计测 6sec 計測回路 本体单体可以进行计测 ・试验槽制御 优秀的操作性 简单操作以及充实机能 高速・ｈ毎的完全独立计测 ◆每个CH 的完全独立计测 ECM-100 可以对每个Channel 进行完全独立计测・ 制御。通过减少Channel 间的干涉，实现高速处理。 防止 防止 TRIAXIAL 线 30V 树枝状烧损 OVERSHOOT 计测线 300V C L A M DA 电流制限回路 I/V 回路 P 回 路 电流计测AD （HIGH-SIDE 側） 16msec 同时计测 电压计测AD 计测线 （GND 側） 计测回路编辑图（1Channel 份） CHANNEL 个别地控制印加电压 CH1 CH2 CH3 CH4 CH5 可以对个别Channel 进行不同的印加电压设定。 可以从1V～到300V 自由进行印加电压设定。 1.5V 5.0V 24V 3.3V 12V 容易的对样本的电压依存性进行评价