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输电线路绝缘子人工污秽试验方法改进
输电线路绝缘子人工污秽试验方法改进
摘要:目前在实验室进行的人工污秽试验,常常需要先确定绝缘子表面的污层是否达到饱和湿润,而后才能施加电压进行研究。针对绝缘子污层的饱和与否的判断缺少科学定量判断方法的现状,本文通过试验研究了瓷和玻璃绝缘子污层湿润状态与湿润时间的关系;瓷和玻璃绝缘子污层湿润状态与蒸汽雾浓度的关系;瓷和玻璃绝缘子表面污秽量与饱和湿润时间的关系,得出了一些有益的结论,为人工污秽试验的改进提供参考。
关键词:输电线路;瓷绝缘子;玻璃绝缘子;人工污秽试验
引言
绝缘子是电力系统使用量最大的器件,由于污秽而引起的绝缘子闪络事故目前在电网总事故中已经占第二位,仅次于雷害事故,但闪络事故造成的损失却是雷害的10倍[1]。因此,进行输电线路绝缘子的人工污秽试验就非常必要。目前,国内外瓷和玻璃绝缘子人工污秽试验方法均依照固体层法和盐雾法执行[2],对于试验标准的研究也广泛开展。
1985年9月,CRIEPI和IREQ两个实验室通过大量的试验得到蒸汽输入速率和闪络电压的关系[3]
(1)
式中SR为蒸汽输入速率,单位kg/m3/hr;V50actual为实际50%闪络电压;V50standard为标准蒸汽输入速率(0.05kg/m3/hr)下,50%闪络电压。
国内外的大量的人工污秽试验都把研究的重点放在湿润程度与泄漏电流、闪络电压等的关系上[4-8]。在实践中,发现对于在实验室进行的人工污秽试验,常常需要先确定绝缘子表面的污层是否达到饱和湿润,而后才能施加电压进行研究,而目前对于绝缘子污层的饱和与否的判断主要依靠实验人员的经验,科学定量判断方法的报道比较鲜见。因此,本文将通过试验研究瓷和玻璃绝缘子污层湿润状态与湿润时间的关系;瓷和玻璃绝缘子污层湿润状态与蒸汽雾浓度的关系;瓷和玻璃绝缘子表面污秽量与饱和湿润时间的关系。
1、试验平台的搭建
本次试验的原理接线图如图1所示。
图中1为计算机;2为蒸汽发生器;3为测量装置(包括测试电阻和数据采集卡);4为人工雾室;5为试验绝缘子;6为蒸汽雾控制阀;7为数字式温度计;8为绝缘套管;9为试验电源;10为控制台。
试品绝缘子为标准盘型悬式绝缘子XWP2-160和LXHY3-160。
本次试验在有机玻璃的人工雾室进行试验,所加电压值固定为1.0kV。每次试验一片绝缘子,试验用固体涂层法中常用的刷污法对绝缘子进行染污,盐密(ESDD)和灰密(NSDD)按照1:3的比例选择四种盐密。蒸汽的输入速率通过出气阀的开度和压力表的读数来保证,每组试品绝缘子试验6次,每次通雾浓度不同。瓷和玻璃绝缘子的试验分组情况如下表所示。
2、试验结果及分析
2.1 不同湿润时间下的污层湿润状态
污层湿润的整个过程中,泄漏电流的脉冲幅值先逐渐增大,且增大的速率逐渐加快;当达到最大脉冲幅值时,泄漏电流脉冲幅值按照衰减的指数规律逐渐下降,最终趋于稳定的值。
2.2 不同蒸汽雾浓度下污层湿润状态
本试验为了研究污层湿润状态与蒸汽雾的关系,在蒸汽雾输入速率逐渐变化的情况下,对绝缘子在相同盐密和灰密的情况下做了大量试验。对试验获得的数据进行分析,可以得到各个盐密情况下的瓷和玻璃绝缘子的饱和湿润时间和蒸汽输入速率之间的关系,如图2和3所示。
从上图可以看出,瓷和玻璃绝缘子在盐密一定的情况下,当蒸汽雾的浓度较小时,绝缘子表面的污层湿润的比较缓慢,随着蒸汽雾的浓度的增大,饱和湿润时间减小,总体呈衰减的幂函数关系。同时,当蒸汽雾的输入速率较小时,绝缘子表面的污层的饱和湿润时间随雾浓度的增大而迅速下降;这种下降速率逐渐减小,最后基本趋于一个稳定的值。这种现象可以解释为:污层中的不溶物质硅藻土吸附水分的能力存在一个极限值。当蒸汽雾的浓度不是很大时,不溶物质可以充分的吸收空气中的水分,使污层湿润;当蒸汽雾的浓度增大到不溶物质的吸水能力的上限时,不溶物来不及将空气中的水分全部吸收,所以当蒸汽雾的浓度增大到一定程度后,污层饱和湿润时间随雾的浓度的增大而减小的趋势就逐渐减小。
2.3 不同污秽程度下污层湿润状态
本试验为了研究绝缘子表面污秽量与饱和湿润时间的关系,按照盐密和灰密的比例1:3,做了0.05mg/cm2、0.1mg/cm2、0.15mg/cm2、0.2mg/cm2四种盐密情况下的污层湿润试验。瓷和玻璃绝缘子不同污秽程度下污层湿润状态的试验结果分别如图4(a)和4(b)所示。
对比分析上图中的各条曲线,可以看出瓷绝缘子和玻璃绝缘子在试验所用雾的浓度范围内,不同污秽程度下污层湿润状态的规律有一定的差异,其主要表现在:瓷绝缘子在较大盐密(0.15和0.2mg/cm2)情况下,污层的饱和湿润时间随蒸汽雾浓度
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