PMD光学元件面形测量中镜头畸变校正的研究.pdfVIP

第 14卷 第 3期 光 学 与 光 电 技 术 Vo1．14。No．3 2016年 6月 OPTICS OPTOELECTRONICTECHNOLOGY June，2016 文章编号：1672—3392(2016)03—0028—08 PMD光学元件面形测量中的镜头畸变校正研究 王雪敏 李大海 鄂可伟 李萌阳 秦 双 (四川大学电子信息学院，四川I成都 610065) 摘要 相位测量偏折术(PMD)是近几年在光学测量领域 内普遍使用的一种非接触式的高精度 测量方法，该方法需要 CCD相机拍摄经被测光学元件反射的在显示屏上显示的条纹图，而CCD 自身存在的镜头畸变会对测量精度产生一定的影响。为避免这一影响，提 出了在梯形畸变和镜 头畸变同时存在的情况下保留梯形形状而只校正镜头畸变的矢量 Zernike多项式校正方法。该 方法首先利用光轴与被拍摄面的交点及相机和被拍摄面的相对位置来求取与光轴垂直的辅助面 上的标准图，然后利用矢量Zernike多项式拟合标准图与畸变图的坐标得到二者的映射关系，接 着运用得到的映射关系对畸变图进行校正。实验结果表明：提出的畸变校正方法可以有效地降 低测量误差，提 高测量精度。 关键词 相位测量偏折术；镜头畸变；畸变校正；矢量Zernike多项式 中图分类号 0435 文献标识码 A 斜所共同引起，梯形畸变主要是由被拍摄物体与相 1 引 言 机光轴的不正交所造成。本文主要考虑镜头畸变 随着科学技术的发展，越来越多的光学元件应 对测量的影响。国内外很多文献对镜头畸变校正 用到了高端产品中，这就对光学元件的面形质量提 技术进行了大量的研究，将这些方法按是否求取畸 出了较高的要求，而对这些光学元件的面形测量是 变数学模型的畸变系数可分为两类：一类是求取畸 其应用的前提 。PMD是近几年来测量光学元件面 变系数，再由得到的畸变系数来校正其他畸变图， 形所普遍使用的一种高精度测量方法。其原理是 大多数会使用标定板如点阵图[5]、平面网格_7]和 根据条纹的相位信息确定光线偏折，利用待测物体 棋盘格_8等，也有不使用标定板的，如基于 IACP— 的梯度信息重建被测面的面形_1]。该方法仅利用 SO算法的摄像机镜头畸变校正_9]、利用Hough变 简单的装置便可较精确地测量出大尺寸光学元件 换实现 自动镜头畸变校正ll明；另一类是不求取畸 面形。其具有结构简单、测量范围大、测量精度高、 变系数而是通过某种关系来校正畸变图，如基于畸 灵敏度高等特点l3]。在该方法的测量过程中需要 变率_l1l_和基于矢量 Zernike多项式l4，12-14~等校正 相机拍摄从显示屏发出经被测面反射的条纹图，而 技术。现存的较为成熟的镜头畸变校正技术是张 实际的成像系统由于 自身像差及制造和安装的误 正友的标定工具箱，该方法虽能较准确地求取畸变 差使成像不能严格满足针孑L模型的要求E，即实际 系数从而校正镜头畸变，但其标定畸变系数的过程 的相机总会存在一定的镜头畸变，这就会使所拍摄 是与相机其他参数的标定融合在一起的，这就造成 的图片不能真实地反映被测面上的条纹信息，从而 了该方法的不足：要么畸变模型复杂，参数较多，计 造成测量的不准确 。 算量大，要么虽然畸变参数少，但依赖于系统其他 图像畸变的形式主要有镜头畸变和梯形畸变 参数的标定，标定过程较复杂_l1引。陈盈锋[4]等提 两种，镜头畸变主要是由自身像差以及透镜元件