纳米材料检测手段-STM-AFM-SEM-TEM-XRD.pptVIP

2、衍射衬度像 一个样品的不同部分由于取向的不同对电子束的衍射能力不同，从而形成材料的衍射衬度像。 衍射成像又分为：明场像、暗场像以及中心暗场像。 3、相位衬度像 该图像可揭示材料0.1nm的结构细节。 相位衬度成像是利用电子束相位的变化，由两束以上电子束相干成像，参与成像电子束越多，分辨率越高。 纳米材料检测手段 content 一、扫描探针显微镜（scanning probe microscopy） 利用极微小的探针（通常曲率半径在纳米尺度）在样品表面的扫描来得到显微图像。 分类： 1、扫描力显微镜（scanning force microscope） 2、扫描隧道显微镜（scanning tunnelling microscope） 3、扫描近场光学显微镜（scanning near-field optical microscope） 1、扫描力显微镜（SFM） 根据针尖与表面作用力的不同： a.原子力显微镜（AFM） b.磁力显微镜（MFM） c.静电力显微镜（EFM） d.切向力显微镜（LFM） e.摩擦力显微镜（FFM） f.化学力显微镜（CFM） g.剪切力显微镜（SFM） 工作原理 作用力与距离的关系 AFM的常规操作模式 接触方式 接触式 非接触式、轻敲式 探针材料 氮化硅针尖或硅针尖