SPC统计过程控制及CPK分析-精选版.pptVIP

异常波动 偶然波动 过程中存在许多波动源，但有一个或几个对质量特性的影响较大，而其它的影响均很小。 这些强的波动源使X的分布会随时间的变化而发生改变，改变分布的位置、或分布的标准差，有时又会使分布的形状发生变化。 偶然波动是偶然因素引起的，是过程固有的异常波动是异常因素引起的，非过程所固有。 过程中存在许多波动源，每个波动源对质量特性X的影响都是很小的，通常X服从正态分布，且其分布不随时间的变化而改变。偶然波动是偶然因素引起的，是过程固有的。 一个成熟的过程是工厂的财富 * 随机原因 ——服从正态分布 大量之微小原因所引起 原料在一定范围内之微小变异 机械之微小振动 仪器测定时，不十分精确之做法 依据作业标准执行作业的变化 通过CPK分析可发现 须管理阶层采取系统的改善对策 大约可以解决85%之制程问题 采取加工精度更高的设备，缩小控制界限 也叫普通原因，共同原因，固有变异：即来自制程中的例行操作又称正常原因，是原料﹐设备﹐人员﹐方法在标准范围内的变化﹐因微小原因引起﹐所以变化相当小。可以认为是稳定而经常存在的，故有人称之为无法避免之原因，这种变异是制程中固有的变异，如果要把它减少，制程亦必随之而变动。 对工厂而言﹐是一种正常变化且不可避免﹐在制程管制时﹐如希望予以减少或去除通常是不经济的。 一定存在各制程中，这种波动一般不会自然消失，不会减少，一直存在 形成一个较稳定的状态 对质量波动的影响不大 不易识别 难以避免 * 非随机原因 ——不服从正态分布 一个或少数几个影响较大因素所引起 使用超出规格的物料，使用不合格的材料 新手新操作人员，员工生病或工作不力 机械故障或工具损坏磨损，机械调整 未依据作业标准执行作业，未按操作标准作业 所制订之作业标准不合理 简单的统计分析可以发现 采取局部措施 由制程人员直接加以消除、改善 大约可以解决15%之制程问题 也叫特殊原因，可避免的原因：是指来自制程中的例行操作以外的力量，又称不正常原因或异常原因。制程中不能管制的变异，是随时在变动，既不稳定，亦非经常存在，并不是制程中的一部分。这种不稳定的性质，使制程不能按照预定的目标操作，致产生过多的变异。非机遇原因之变异，不但可以找出其原因，经济立场上应予以消除﹐且是可避免的。 偶然性发生,具有特别的条件 引起质量的较大变化 易于识别，易于消除 这种波动有时存在，有时会消失 * 管制图异常波动来自 测量系统原因 产品原因 加工规格偏离 首先：排除测量误差 测量的重复性 测量的准确度 原材料 夹具 辅具 机器参数 管制图异常处理步骤 设备 加工的重复性 加工的准确度 原材料尺寸 原材料性能 原材料规格 改变工艺、标准 改变产品设计 夹具精度 夹具磨损 夹具位置 二：产品确实不合规格 三：原材料是否符合规格 四：加工设定规格正确？ 五：加工设备各个方面有问题？ 以上方法都不解决问题时 * 管制图的作用 规格上限USL 640.5Ω 规格下限LSL 579.5Ω 规格中心 610Ω 制程波动趋向稳定 区分出生产过程中产品质量的随机波动与异常波动，从而对生产过程的异常趋势提出预警，以便生产管理人员及时采取措施，消除异常，恢复过程的稳定，从而达到提高和控制质量的目的。 管制图用于识别特殊原因与普通原因 当过程仅受随机因素影响时，过程处于统计控制状态 当过程有非随机因素影响时，管制图会显示异常状态 制程波动大 制程波动小 * 管制图的类型 不良率管制图 ( P Chart ) 不良数管制图 ( P-Chart or d Chart ) 缺点数管制图 ( C Chart ) 单位缺点数管制图 ( U Chart ) 计量值管制图 平均值与全距管制图( X-R Chart ) 中位值与全距管制图( X-R Chart ) 个别值与移动全距管制图( X-Rm Chart ) 平均值与标准差管制图( X-σ Chart ) 计数值管制图 * 1.数据收集： A）确定抽样频率和抽样数目 2 – 6 平均值-全距 管制图 6 平均值-标准差 管制图 = 1 个别值-移动全距 管制图 根据制程状况，一般情况下每2小时抽样一次，为便于数据处理，每次抽样数为5PCS，共抽取25个子组。 2.计算控制界限： A）全距控制图控制界限 R =S R i/ k UCLR = D4 R LCLR = D3 R R = 所有样本的平均全距 k = 样本个数（组数） UCLR = 全距的上控制界限 LCLR = 全距的下控制界限 样本数目 D3 D4 2 0 3.267 3 0 2.574 4 0 2.282 5 0 2.114 6 0 2.004 7 0.076 1.924