用于验证暗室性能的场地电压驻波比测试法.PDF

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用于验证暗室性能的场地电压驻波比测试法

用于验证暗室性能的场地电压驻波比测试法 随着电子类产品的高速发展,电磁兼容问题愈显突出,而电磁兼容 测试则是解决电磁兼容问题的主要手段。电波暗室是目前使用最为广泛 的电磁兼容测试场地,可以说,暗室质量的好坏直接影响到电磁兼容测 试的准确性和可靠性。目前,主要是根据CISPR 16-1-4 和IEC61000-4-3 对暗室性能进行评估,实际上,评估的方法就是对应于电波暗室的实际 测试应用进行的,其中包括:归一化场地衰减测试(NSA ),对应 30~ 1000MHz 的辐射发射测试;场均匀性测试(FU),对应26MHz~18GHz 的辐 射抗扰度测试。而针对 1~18GHz 的辐射发射测试,则依据最新的CISPR 16-1-4,采用场地电压驻波比法(SVSWR)对暗室性能进行评估,本文主 要对该方法进行介绍。 暗室性能的评估本质上是验证不同频率的电磁波在暗室内的反射对 测试的影响。SVSWR 测试法同NSA 方法所用的绝对校准不同,新方法使用 的是相对测量技术。其原理是基于电磁波的干涉现象。由波源即发射天 线发出的直射信号和其在暗室内壁上的反射信号叠加产生的合成信号形 成空间驻波,该合成信号的最大值和最小值之比即为空间驻波比,其大 小可表征反射波的强度,从而验证的暗室内的反射特性。若接收信号幅 度以分贝单位表示,则是最大值与最小值之差。 CISPR 16-1-4 中定义了两种SVSWR 测试法,一是使用天线发射和天 线接收的标准法,二是使用天线发射和场探头接收的替代法,通过我们 实测对比,可以肯定两种方法完全等效,限于篇幅,本文仅对设备用量 少,应用广泛的标准法进行介绍。 进行SVSWR 测试,首先要确定圆柱形的测试静区,即被测设备(EUT) 要放置的位置,通常为转台所处的圆形区域,在该圆面上确定前、中、 左、右4 个测试位置,每个位置确定 6 个测试点,分别以‘1’~‘6’ 标注。测试点布置如图 1,其两两排列间隔由‘6’至‘1’分别是 2cm、 8cm、8cm、12cm、10cm,标准中未提及 6 个点不等距分布的原因,据笔 者分析,应是考虑到测试频带较宽,应对不同波长的信号的采样而设计 的间距。测试高度通常为1m 和2m,根据地面吸波体的高度和实际EUT 的 高度,可根据标准进行调整,需注意的是,最高的高度仅测‘前’位置。 测试高度布置如图2。测试中,使用两副天线进行信号的收发,沿轴线距 静区的边沿以实际的测试距离放置接收天线,在静区内的24 个测试点为 发射天线位置,发射天线使用低方向性天线,可以照射到暗室所有内表 面,且受位置的影响小,天线的较小的偏移不会影响测试结果。两天线 之间的地面依照暗室建设方的设计要求铺设吸波材料。测试时,两天线 高度相同,接收天线始终沿轴线指向静区中心,发射天线依次放置的静 区内的24 个测试点上,方向指向接收天线。在每个点都以恒定的发射功 率发射 1~18GHz 的信号,频率步进至少为50MHz,记录接收到的信号电 平。将每个位置的 6 个点的信号读值经空间损耗修正后,其最大值与最 小值之比即为该位置的空间驻波比值,换算成分贝制后,要求所有测试 位置的驻波比值均小于等于6dB,暗室对于该项测试即为合格。 图 1 SVSWR测试静区中的测试位置包含的测试点序列(俯视) 图2 SVSWR 测试位置的高度要求(侧视) 依照标准法进行实际的 SVSWR 测试时,通常选用网络分析仪进行信 号的收发,其好处是测试速度快,测量动态范围较大,即使在较远的测 试距离下也无需使用前置放大器,若使用矢量网络分析仪,甚至可以通 过时域变换的方法对有问题的暗室进行诊断。发射天线一般使用 SBA9112/9113,POD 等全向天线;接收天线则可使用喇叭天线或被测方指 定的天线。鉴于暗室的尺寸,应选用优质的微波信号线缆进行信号的传 输以降低线损,提高测量动态范围。信号的收发由电脑控制仪器完成, 并将接收信号读值采集下来,当一个位置的 6 个点都测完后,自动计算 该位置的驻波比值,以判断是否合格。 图3 为SVSWR 实测照片。 图3 使用SBA9113 天线作为发射天线时的SVSWR 测试 我室于2008 年开展暗室的 SVSWR 测试验证工作,目前已对十余间暗室进行过该项验 证,以下将列举一些我们在实测中遇到的问题和经验。 (一)由于SVSWR 测试在微波频段,且为相对性测试,发射天线的支 架应选用高频电导率低的材料

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