苹果抗炭疽菌叶枯病基因SNP和InDel标记的HRM筛选.PDF

园艺学报，2017 ，44 (2) ：215 –222. Acta Horticulturae Sinica doi ：10.16420/j.issn.0513-353x.2016-0519；http ：//www. ahs. ac. cn 215 苹果抗炭疽菌叶枯病基因 SNP 和 InDel 标记的 HRM 筛选 1 2 3 3 1 1 1,* 刘源霞 ，兰进好 ，柏素花 ，孙晓红 ，刘春晓 ，张玉刚 ，戴洪义 1 2 （青岛农业大学园艺学院，青岛市园艺植物遗传改良与育种重点实验室，山东青岛 266109 ； 青岛农业大学农学与植 3 物保护学院，山东青岛 266109 ； 青岛农业大学生命科学学院，山东青岛 266109 ） 摘 要：以 207 株‘金冠’与‘富士’苹果的 F1 杂交分离群体实生树为试材，挑选抗炭疽菌叶枯病 基因 Rgls 位点区域内的，第 15 条染色体上，位于 SSR 标记 S0304673 和 S0405127 之间 500 kb 物理距离内， 由全基因组重测序技术所获得的与抗该病相关的 10 个 SNP 及 10 个 InDel 标记，通过高分辨率熔解曲线 （High Resolution Melting ，HRM ）技术筛选出与基因Rgls 位点紧密连锁的 2 个 SNP 及 4 个 InDel 标记。 通过对重组个体的基因型及表型分析，发现标记 InDel4227 和 InDel4254 表现出与 Rgls 基因位点共分离， 将基因Rgls 精细定位于标记 InDel4199 和 SNP4299 之间 100 kb 的物理距离内。对该基因位点两侧 4.1 ~ 4.3 Mb 距离内的基因进行统计分析，表明在该区段内存在 40 个有功能注释的基因，涉及到细胞组成、分子 功能和生物过程方面共 19 个 GO 分类。 关键词：苹果；高分辨率熔解曲线；炭疽菌叶枯病；SNP 标记；InDel 标记；精细定位 中图分类号：S 661.1 文献标志码：A 文章编号：0513-353X （2017 ）02-0215-08 Screening of SNP and InDel Markers to Glomerella Leaf Spot Resistance Gene Locus in Apple Using HRM Technology 1 2 3 3 1 1 LIU Yuanxia ，LAN Jinhao ，BAI Suhua ，SUN Xiaohong ，LIU Chunxiao ，ZHANG Yugang ，and DAI Hongyi1,* 1 （Qingdao Key Laboratory of Genetic Improvement and Breeding in Horticultural Plants，College of Horticulture， 2 Qingdao Agricultural University，Qingdao，Shandong 266109 ，China；College of Agronomy and Crop Protection，Qingdao 3 Agric