d3 偏心量测技术跟发展.docVIP

PAGE PAGE 1 偏心量測技術與發展 文/圖：李建興、吳文弘、黃國政、陳峰志　儀器科技研究中心 前言 近年來，由於數位資訊產業爆發性的成長，小尺寸光學透鏡如讀寫鏡頭、數位相機、手機相機與光通訊等相關元件之應用需求大幅增加。隨著模造玻璃成形與射出成形等相關高精密模具產業的蓬勃發展，此類軸對稱光學元件在製作或系統組裝時，光軸與旋轉對稱軸若不重合，將產生偏心誤差，而此偏心誤差對於低 f/# 值及短背焦 (back focal length, BFL) 之小尺寸光學透鏡成像品質具有關鍵性的影響。偏心誤差可分為兩種來源；一種是光軸與幾何中心軸之間的橫向偏移 (lateral displacement)；另一種是光軸與幾何中心軸之間的傾斜 (tilt)。鑑於此類光學透鏡廣泛應用及其光學系統組裝校正的要求，對於元件偏心誤差之檢測評估，則是製作高精度光學鏡片之一重要課題。本文簡介偏心量測原理及未來開發過程中可預期之關鍵技術與挑戰，以期提升國內光學產業相關檢測能力。 何謂偏心 對於旋轉軸對稱光學元件或系統，其在元件製作或系統組裝時，光軸與旋轉對稱軸之非重合現象，即為偏心誤差 (centring error)。在光學元件及系統國際標準規範 ISO 10110 中，係以基點 (datum point) 與基軸 (datum axis) 來描述同心度誤差 (centering