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计算机组织与系统结构第一次习题课 张吉豫 2004年11月23日 Homework 1.46 CostperDie = CostperWafer /(DiesperWafer * yield) 已知Wafer A的DiesperWafer是Wafer B的两倍，单位面积的缺陷率不变 认为Wafer A与Wafer B的CostperWafer相同 Wafer A的Die面积小于Wafer B的Die面积，而单位面积的缺陷率是不变的。面积大的Die缺陷率高，因此前者的成品率高于后者，产量比后者的两倍要多。 常见问题：认为Wafer A中Die的面积是Wafer B中Die的面积的1/2 Homework 1.48-1.50 Cost per die和Die area之间的关系 CostperDie = CostperWafer /(DiesperWafer * yield) DiesperWafer 约为 Wafer_area / Die_area Yield = 1/ [1 + (Defects_per_area*Die_area/2)]2 （经验公式） DiesperWafer的估算 第一次实习－－常见问题 正确的前提+正确的结论＝正确的推理？ 根据统计的几类指令的百分比总和，轻易得出结论：简单指令占据程序中指令总数的绝大部分 数据示例 Basicm