国标-静电复印硒鼓膜层附着力试验方法.doc

ICS ICS 37．100．01 备案号：21875--2007 J臣 G81 中华人民共和国机械行业标准 JB广r 553孓一2007 代替JB／T 5533--1991 静电复印硒鼓膜层附着力试验方法 Selenium drum for electrostatic copying __。——Testing method of adhesive force between coating and backing 2007—1 0．08发布 2008—03—01实施 中华人民共和国国家发展和改革委员会发布 目 目 次 刖青 1范围 ．．．．．．．．．．．，．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．，，．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 2原理 ．．．．．．．．．．．．．．．．． ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．，．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．+．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．1 3试验设备 4试样 ．．1 5试验步骤 一1 6试验报告 ．．2 JBfr JBfr 5533—2007 刖 昂 本标准代替JB／T 5533--1991《静电复印硒鼓膜层附着力试验方法》。 本标准与JBfl5533--1991相比，主要变化如下： ——增加标准的英文名称； ——增加前言； ——将第一章“主题内容与适用范围”改为“范围”； ——删除附加说明。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国复印机械标准化技术委员会(SAC／TC 147)归口。 本标准由天津复印技术研究所负责起草。 本标准主要起草人：赵晓东、唐云山、蔺亿铭。 本标准所代替标准的历次版本发布情况： ——JB，T 5533一】991。 Ⅱ JBFr JBFr 5533—乏007 静电复印硒鼓膜层附着力试验方法 1范围 本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力的试验方法，其中包括：原理、设备、试样、试验步骤和试 验报告。 本标准适用于se，se．Te及Ae2Se3等类型硒鼓。 2原理 硒鼓底基材料与膜层材料的热膨胀系数不同，在一定的高低温冷热循环冲击下产生的应力变化，使 膜层出现隆起、龟裂、脱落，由此判定硒鼓膜层的附着力是否合格。 3试验设备 3 1试验箱： 3．1．1 应提供两个试验箱，一个作为冷箱，一个作为热箱，试验箱的放置应便于硒鼓试样在两箱之间 迅速转换。 3．1．2试验箱应该能够在放置硒鼓试样的区域内保持试验所要求的温度。 3．1．2试验箱内的空气应流通，靠近硒鼓试样处测量其速度应不小于2m／s。 3．1 4试验箱内的容积应保证在硒鼓试样放人后不超过5min就能使温度保持在规定范围内。 3．2支撑件： 硒鼓试样的支撑件的导热率应该是低的，以使实际上硒鼓试样近似于绝热。 3．3 5～10倍放大镜。 4试样 试样的膜层应无任何脱落、隆起、龟裂、划伤等会影响试验结果的缺陷。 5试验步骤 5．1按硒鼓的类型，将热箱和冷箱的温度调整控制在表1规定的值。 表1 、＼试验条件 热箱温度L 冷箱温度死 试验室温度 循环次数 硒鼓类型、、＼ 次 Se，Se一1b 25±1 -20±1 15～25 1 Ae2Se] 70±1 -25±1 15～35 10 5．2将不带任何包装的硒鼓试样在试验室环境温度下直接放人热箱内。 5．3硒鼓试样放在热箱内放置1h。 5．4将硒鼓试样从热箱中取出，迅速放人冷箱内，从热箱转换到冷箱的时间应不超过30s。 5．5硒鼓试样在冷箱内放置1h。 5．6将硒鼓试样从冷箱中取出，在试验室的环境温度下放置30min，在此时间内用放大镜或目视检查硒 鼓膜层表面有无脱落、隆起、龟裂。如出现上述任一现象，则中止试验，判定膜层附着力不合格。 5．7 6．2～6．6构成一个循环(见图1)。按表1规定的次数进行循环。 JB／T JB／T 553湖007 A——循环起点；瓦——热箱温度值；巧一冷箱温度值：f。——试样在热箱及冷箱内的放置时间 k——试样从热箱到冷箱的转换时间：t3——试样在实验室内的放置时间。 图1 6试验报告 报告应包含下列内容： a)试验依据； b)产品名称(本标准号)； c)生产厂家或委托试验单位 d)生产日期； e)样品编号； f)试验条件及日期： g)试验结果及判定； h)试验人员签名。 2