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TR-518FR測試原理介紹 目 錄 1.開,短路測試原理 2.電阻測試原理 3.電容測試 4.電感測試 5.二极體,齊鈉二极體測試 6.電晶體測試 7.場效應管測試 8.SCR,TRIAC測試 9.PC 光耦合元件測試 10.IC CLAMPING DIODE 測試 11.IC OPEN,CONNECTOR TEST(HP TESTJET) 測試 12.TR-518FR軟體界面介紹. 1.開短路測試 ICT測試開短路是提供一個直流電流源到兩個量測點,以確認兩個量測點之間的阻抗值,然后與開短路界限值比較 Select Open/Short Control Range:(提供三個選擇)1.5,25,552.15,55,853.5,20,80,我們一般選擇”1”,它的意思就是,短路測試時,小於5Ω的兩點就認為短路;開路測試時,大於55Ω的兩點就認為開路;而短路群學習時,所有小於25Ω的點就自動集成不同的短路群. ? 開路測試是根據短路群資料,在任一短路群中任何兩點之間阻抗大於55Ω,則是開路不良. 短路測試時,在短路群中任何一點與非短路群中任一點之阻抗小於5Ω,不同短路群中任兩點之阻抗小於5Ω,非短路群中任何兩點之阻抗小於5Ω, ICT則認為是短路. 如下圖所示: 1 2 3 4 5 如上所示5個