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微波用于抑制光刻胶纳米线条倒伏的研究-微电子学

第 卷 第 期 微 电 子 学 , 47 5 Vol.47 No.5 年 月 2017 10 Microelectronics Oct.2017 췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍 微波用于抑制光刻胶纳米线条倒伏的研究 , , , , , , 1 2 1 2 1 2 1 3 1 3 1 3 黄洛俊 ,康 恒 ,程 嵩 ,李勇滔 ,夏 洋 ,景玉鹏 ( , ; , ; 1.中国科学院 微电子研究所 北京 100029 2.中国科学院大学 北京 100049 , ) 3.集成电路测试技术北京市重点实验室 北京 100088 : 摘 要 针对半导体工艺中去离子水的表面张力导致显影干燥过程中光刻胶纳米线条容易发生 , , 。 , 倒伏的问题 采用了微波干燥方法 以抑制光刻胶纳米线条倒伏 利用微波的热效应和非热效应 , 、 , 降低去离子水的表面张力 使光刻胶纳米线条上的去离子水均匀 快速地蒸发 有效抑制了光刻胶 。 , 、 纳米线条的倒伏 与氮气干燥处理的传统方法相比 该方法能使高 宽 的光刻胶纳 130nm 15nm , 。 , 。 米线条不发生倒伏 效果明显 这表明 该方法是可行和有效的 : ; ; ; ; 关键词 微波干燥 光刻胶纳米线条 表面张力 倒伏 水分子团簇 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TN305.7 A 1004-3365201705-0718-05 ResearchonSu ressin theCollaseofPhotoresistNanowiresb pp g p y MicrowaveDrin Process y g , , , , , , 1 2 1 2 1 2 1 3

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