面向SRAMFPGA软错误的可靠性评估与容错算法研究.docxVIP

面向SRAM型FPGA软错误的可靠性评估与容错算法研究_景乃锋 上海交通大学 微电子学院博士毕业论文 FPGA（Field Programmable Gate Array）现场可编程门阵列，具有配置灵活、开发周期短等特点。FPGA的几种类型（SRAM-based、Flash-based和反熔丝型Antifuse-based）其中以SRAM型的市场份额最多。 深亚微米集成电路软错误具有时间、空间的随机性，主要由于电源电压的不断降低、工作频率的持续提高、噪声容限的日益减小和芯片复杂度的高速增长，导致集成电路对工作环境愈发敏感。FPGA设计应用评价指标（性能、功耗和可靠性）。这篇博士论文主要是对于FPGA电路以及基于FPGA的系统，尤其是针对FPGA配置字软错误进行研究。 针对SRAM型FPGA敏感单元是存储配置字数据和用户数据，其中配置字数据控制着FPGA中所有的可配置资源，包括逻辑真值表（Look-Up Table）、互连线、时钟等资源，它们决定FPGA的行为。用户数据进一步分为触发器（Flip-Flop）数据和块存储（Block RAM）数据，用来保存FPGA运行期的结果和预定义的查找表等。发生在用户数据存储单元上的软错误可以通过触发器或数据块的下一次锁存而恢复正确的数值（瞬态可恢复）。由于FPGA行为的配置数据约占整个FPGA存储单元数量的95-98%，因此发生在配置数据存储单