遮盖帽的用途.ppt

LAI-2000植物冠层分析仪安装培训 为什么要测量叶面积指数？ 冠层结构——叶片的数量及其分布情况，是研究冠层中光线穿透情况，冠层生产力，冠层下土壤水分蒸发、蒸腾损失总量，冠层截留，及土壤温度的基础因子。同时对于不同尺度上的生态系统过程、系统之间的物流和能流的研究均是非常重要的。 然而直接测量植物冠层结构是十分困难，手工测量只限于小冠层；对于象森林那样大的冠层，几乎是不可能的。然而光线传播模型能相对简单地测量出光线穿透情况，并对冠层结构作出精确的估计。 LAI-2000特点 快速直接测量叶面积指数； 不受光线条件限制，能在不同光照下进行测量； 测量时不需太阳直射光线照射； LAI-2000可能测量不同大小的冠层，细至小草，大至森林 仪器轻便易携，便于野外使用； 低能耗，可以在野外长时间使用； 可以连接多种辐射感应器，能同时测量PAR等； 测量参数 测量叶面积指数（LAI） 计算叶面积标准误（SEL） 测量无截取散射（DIFN） 测量平均叶倾角（MTA） 计算平均倾角标准误（SEM） 叶面积指数（LAI） LAI回答“有多少叶片”，尽管LAI字面上是指“叶面积指数”，但LAI-2000是测量所有挡光的物体。LAI没有单位，可认为是叶面积/地面积。 平均叶倾角（MTA） MTA回答“叶片倾斜如何”。如果所有叶片都是水平的，那么MTA就是