多 CCD 大幅面扫描仪拼接辅助调试系统的设计与实现-计算机系统结构专业论文.docxVIP

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多 CCD 大幅面扫描仪拼接辅助调试系统的设计与实现-计算机系统结构专业论文

西安电子科技大学 学位论文创新性声明 秉承学校严谨的学风和优良的科学道德,本人声明所呈交的论文是我个人在 导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加以标 注和致谢中所罗列的内容以外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成 果;也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的 材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中做了明确的说 明并表示了谢意。 申请学位论文与资料若有不实之处,本人承担一切的法律责任。 本人签名: 日期 西安电子科技大学 关于论文使用授权的说明 本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定,即:研究 生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属西安电子科技大学。学校有权保 留送交论文的复印件,允许查阅和借阅论文;学校可以公布论文的全部或部分内 容,可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证,毕业后 结合学位论文研究课题再攥写的文章一律署名单位为西安电子科技大学。 (保密的论文在解密后遵守此规定) 本学位论文属于保密,在 年解密后适用本授权书。 本人签名: 日期 导师签名: 日期 摘 要 多 CCD 大幅面彩色扫描仪作为一种宽幅图纸高精度扫描数字输入的设备,在 军事、测绘等特殊领域有着广泛的应用。正是由于宽幅和高精度的要求,不可避 免的给这种扫描仪设备的生产调试带来了多 CCD 扫描头的拼接问题。多 CCD 扫 描头的机械拼接精度,决定了扫描仪设备的整体精度。生产厂家传统的人工调校 方法,不但费时、费力,而且精度不高。本文针对某扫描仪设备的生产调试,设 计实现了多 CCD 扫描头机械拼接调试的计算机辅助调校系统。 本文在对多 CCD 扫描头机械拼接调试过程进行分析的基础上,对辅助调试系 统的功能需求进行了分析,并设计了系统的整体实现方案;针对拼接调试过程, 确定了系统图像显示、图像预处理、控制点定位、偏差获取及显示等模块的功能 及实现途径。在对多种灰度化及去噪处理算法进行分析及对比试验的基础上,针 对设备调试过程中扫描图像偏暗、色彩偏差大的现象,采用中值滤波、Zhang 细化 等方法实现了对拼接调试所用网格扫描图像的预处理,使网格扫描图像清晰、特 征显著;对预处理后的网格图像,分别采用传统的模板定位算法及亚像素算法实 现对网格控制点识别定位,以满足粗校准及精校准的不同需求;在网格扫描图像 控制点定位的基础上,根据各拼接调试环节的不同需求,实现相关偏差信息的测 量及显示;最后,集成实现了拼接辅助调校系统。对仿真系统测试,结果达到设 计要求。 多 CCD 大幅面扫描仪拼接辅助调试系统的实现,不但降低了扫描仪设备生产 调试的工作强度、提高了生产效率,而且保证了设备的调试精度。实现方法对相 关设备在线自动辅助调校系统的设计实现有一定的借鉴价值。 关键词: 拼接调试 控制点 模板操作 灰度插值 亚像素定位 Abstract As a type of wide drawings high-precision digital input equipment, multi-CCD large-format scanners have a wide range of applications in military, mapping and other special areas. Just because of requirements in large format and high precision, splicing problem of multi-CCD in the production debugging of this kind of scanners comes out inevitably. Mechanical splicing precision of multi-CCD determines the whole accuracy of these scanners. The traditional manual adjustment of manufacturers is not only time-consuming and laborious, but also low-precision. Specific to the production debugging of one scanner, this paper designs and implements a computer-aided tuning system for the mechanical splicing debugging of multi-CCD. Based on the analysis of

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