可靠性预计技术发展研究.docVIP

可靠性预计技术的发展研究 1?? 美国MIL－HDBK－217军用手册与我国GJB／Z 299军用标准的发展 ??? 美国自1962年出版MIL－HDBK－217以来已经公布了7个更新版本。1962年的217手册是依据试验数据、装配数据、系统鉴定数据和现场数据而获得的综合统计结果。各类元器体采用同一环境系数，尽管比较粗糙，但预计结果比较接近实际情况。 ??? 1965年的217A仅采用有控制的试验数据(进库试验和鉴定试验等)，给出失效率与应力的曲线，现场数据仅用来确定环境系数，从而各类别元器件失效率预计模型有了各自的环境系数，但217A预计的设备故障率比217大10倍左右，预计的准确性受到怀疑。 ??? 1974年的217B较全面地考虑了影响失效率的多种因素，增加了质量系数，在统计过程中更加重视现场数据，提高了预计的准确性，217B标志着美国可靠性预计技术逐渐走向成熟。 ??? 1991年的217F给出了19大类元器件的预计模型及参数，重要的修改有： ??? (1)PLA、PAL电路门数从217E的30000门扩展至60000门； ??? (2)修改了EEPROM的预计模型，考虑了EEPROM改写次数、改写方式和产品结构的影响；? (3)MOS型VLSIC的预计模型增加了λEOS系数，考虑了电过应力的影响； ??? (4)双极型微波分立器件模型分为低噪声和大功