纳米材料表征技术koqpvxng.pptVIP

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  • 2018-10-29 发布于湖北
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纳米材料表征技术koqpvxng

GaN 拉曼谱 拉曼(Raman)散射法可测量纳米晶晶粒的平均粒径,粒径由下式计算: 式中B为一常数, 为纳米晶拉曼谱中某一晶峰的峰位相对于同样材料的常规晶粒的对应晶峰峰位的偏移量。 扫描隧道显微镜的发明,使科学家们得以直接看到个别原子和分子的电子结构,实现了过去科学家们白原子学说提出后长期梦寐以求的直接观察原子图像的“梦想”。1983年,C.Binnig等人首次演示了在Si(111)—7×7表面上具有阶梯的真实原子和分子的电子结构图像,图像尺寸为32.0nm× 32.0nm,每个阶梯的高度约为1.2 nm,从此原子和分子的电子结构,不再是科学家的理论假设,而是在实际中能触知和观察到的实在物体。 由于STM检测的是针尖与试件间的隧道电流,因此,不仅试件表面形貌的高低起伏,而且表面的局域电子状态都影响隧道电流及测量结果,故STM测得的试件表面图像,实际上是表面形貌和表面电子状态的综合结果。仅在试件表面无特殊电场的情况下,STM测得的图像才表示表面的微观形貌。 STM的基本原理 STM的发明实际是突破了三方面的重大关键技术: ①用探针借助隧道电流的大小,感知试件表面微观形貌的高低,达到纳米级分辨率。 ②用XYZ三向精密扫描运动,获得被测试件表面上全面积的微观形貌信息。 ③用计算机进行信息处理,获得试件表面微观形貌的纳米级三维形貌图像。 STM

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