对高压断路器cu╱w触体侵蚀的调查.docVIP

对高压断路器Cu/ W触头侵蚀的调查 JensTepper,MartinSeeger,Member,IEEE,TorstenVotteler,VolkerBehrens,and ThomasHonig 摘要:预测和理解高压断路器的Cu/ W触头电弧接触的侵蚀过程对提高断路器的寿命很重要。由于侵蚀导致的几何接触变化是影响断路器寿命的一个主要因素。据了解，触点材料的烧蚀至少取决于像电弧电流幅度，燃弧时间，总电量，和触头材料性能等参数。在实验结果的基础上，得到了一种改进预测侵蚀的方法。实验已经实现了对SF6自爆断路器测试装置随商业高压断路器触头当电流幅度高达45 kA和燃弧时间达17毫秒时的试验。根据电极能量平衡，由蒸发引起的材料的侵蚀可以计算出来。由此产生的侵蚀率与实验结果相吻合说明了具体侵蚀规模与电流，极性和燃弧时间有关。这表明，在这个范围内的电弧侵蚀主要由于触头材料的蒸发和辐射。 关键词:电弧接触，铜钨，侵蚀，高压断路器。 Ⅰ. 简介 高压断路器电弧作用导致触头材料在电弧接触时被腐蚀。由于侵蚀，从而对触点几何接触产生的变化是决定了断路器使用寿命的一个主要因素。截至目前，高压断路器触头侵蚀预测常用的方法是基于文[1]的实验研究结果。本文的目的是介绍一个基于物理冲刷弧电极相互作用模型的触头腐蚀预测的改进方法。在过去，文[2] -[6]已经完成了一些电弧电极相互作用的调查研究。这些出版