嵌入式存储器内建自测试的原理及实现-维普.PDF

维普资讯 第24卷 第2期 固体 电子学研究与进展 Vo1．24．NO．2 2004年 5月 RESEARCH ＆PROGRESSOFSSE M ay，2004 嵌入式存储器 内建 自测试的原理及实现 陆思安 何乐年 沈海斌 严晓浪 (浙江大学超大规模集成 电路设计研究所 ．杭州 ，310027) 稿 改稿 摘要 ：随着集成 电路设计规模 的不断增大 ．在芯片中特别是在系统芯片SOC(systemOnachip)中嵌人大量 存储器 的设计方法正变得越来越重要。文中详细分析 了嵌入式存储器 内建 自测试的实现原理 ，并给 出了存储器 内建 自测试的一种典型实现。