材料表征X射线衍射分析-浙江大学材料科学与工程学院.PDFVIP

Materials Characterization 材料表征 X射线衍射分析 教师：韩伟强， 任召辉 助教：郭容zju.edu.cn MATERIALS CHARACTERIZATION 电磁辐射与材料的相互作用 发射 电 光电离 磁 荧光 辐 光电子 磷光 射 俄歇电子 固体试样 光电流 nA 散射 （电子散射、分子散射） 吸收 （透射、反射） X射线衍射分析 MATERIALS CHARACTERIZATION MATERIALS CHARACTERIZATION MATERIALS CHARACTERIZATION 微观结构的研究方法 ∆ 光学显微镜 ∆ 电子显微镜 （SEM、TEM) ∆ XRD 、同步辐射 ∆ 中子衍射（对轻元素位置非常敏感） ∆ 电子衍射（研究局域） ∆ 场离子显微镜（研究表面） ∆ RBS、俄歇、XPS 、LEED、STM、AFM ∆ 穆斯堡尔谱、核磁共振等 MATERIALS CHARACTERIZATION 本课程的目的 ∆ 讲解x射线衍射基础 ∆ 通过课程学习。了解科学发展与研究事物过程 MATERIALS CHARACTERIZATION Chap 7 X射线的物理学基础 一. X 射线的发现与伦琴 二.X射线本质 三.X 射线产生与X射线谱 四. X 射线与物质的相互作用 五.X 射线的防护 MATERIALS CHARACTERIZATION Chap 7 X射线的物理学基础 一. X射线的发现与伦琴 -3 X射线是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为10 ～10 nm， 介于紫外线和γ射线之间。由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现， 故又称伦琴射线。 W. K. Rontgen (1845-1923) 德国 维尔茨堡大学校长，是一个治 学严谨，造诣很深的实验物理 学家，由于发现X射线，第一 个获诺贝尔物理学奖(1901年) MATERIALS CHARACTERIZATION 与 1836年，英国科学家迈克尔.法拉第（Michael Faraday，179