TRL校准测试芯片S参数和增益压缩操作示范指南-是德科技大学.PDFVIP

TRL 校准测试芯片S 参数和增益压缩 操作示范指南 作者：是德科技成都开放实验室 是德科技射频应用工程师，谢能 实习应用工程师，王亚伟 实习应用工程师，于飞 TRL校准测试芯片S参数和增益压缩 说明： 矢量网络分析仪在测量之前需要校准消除仪表和外部连接线缆的误差。传统 的两端口校准通常使用3 个阻抗标准和1 个传输标准定义校准参考平面，这些标 准一般为短路、开路、负载和直通，就构成了SOLT 校准套件，SOLT 校准通常 适用于测试端面为同轴端面的被测件。 另一种两端口校准最少可以用3 个标准定义校准参考平面，这三个标准一般 为直通、反射和传输线，我们称之为 TRL 校准。非标准输入输出接口的被测件 测试通常需要夹具，使用夹具后测试端面和校准端面不在同一个平面上，这时如 果使用SOLT 校准方法会引入测试误差，而制作新的SOLT 校准件难以实现，此 时可以使用TRL 校准，TRL 校准件比较容易定义和设计。 本次实验需要测试焊接在PCB 夹具上的封装芯片引脚处的S 参数和增益压 缩。如果使用SOLT 校准，校准端面是在同轴端面上，芯片输入输出连接器和微 带线会影响测试精度，为了准确评估芯片特性，需要在芯片引脚处进行测试。实 验中使用了TRL 校准来消除夹具的影响，校准端面在芯片引脚处。 硬件需求： 1. N5245B 矢量网络分析仪 2. TRL 校准件 传输线校准件 直通校准件 反射校准件 3. 电子校准件 4. 功率探头 5. 两根测量电缆 6. 被测件：放大器芯片，工作频率5-6GHz 操作指南： 1. 开机，按【Preset 】键 （【】代表仪器前面板按键，[]代表显示屏软面板按 键）。 2. 在使用TRL 校准前需要定义自己设计的TRL 校准件，步骤如下。 按前面板 【Cal 】键，选择[Cal SetsCal Kits]，再选择[Cal Kit] ，进入校准件定 义菜单。 菜单中会显示网分包含的所有校准件，可以查看、修改这些校准件的参数。 然后点击insert 新建一个校准件，会出现如下定义校准件的界面。 在Connectors 菜单下定义连接器参数。 Connector Family 选择校准件接口类型。可以Add 一个自定义的转接头类型， 本例中使用的是TRL Frequency Range 表示校准件的频率 Gendered 表示连接头类型分阴头和阳头。Genderless 表示连接头不分阴阳。此 处定义的TRL 校准件是双阴头，可以选择Genderless Impedance Z0 设为1ohms (TRL 校准使用传输线阻抗) Transmission Media 表示接口类型。同轴接口选择COAX ，波导接口选择 WAVEGUIDE 在Standards 菜单下定义校准件标准，点击Add 添加校准件。 当前使用的TRL 校准件的反射校准件是用开路的方式来实现，因此选择 OPEN ，然后点OK ，出现如下菜单。 Connector Port 1 选择TRL Frequency Range 表示校准件工作频率 Delay Characteristics 表示反射校准件参数。Delay: 0 ，Loss: 0 ，Z0: 1 ohms 。 (TRL 校准用这些参数，SOLT 校准不用) Open Characteristic 表示开路校准件参数。(SOLT 校准用这些参数，TRL 校准不 用) 参数定义完成后，点击OK ，菜单中新增了一个反射校准件。 然后点击Add ，继续定义直通校准件。 Connector