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- 2018-12-06 发布于天津
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受激发射损耗显微术及扩展技术
激光与光电子学进展
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480518012011 狆 犵 ○2011
受激发射损耗显微术及扩展技术
,
杨 鹏12 艾 华1
1 2
(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033;中国科学院研究生院,北京 100049)
摘要 受激发射损耗( )显微术利用荧光饱和与激发态荧光受激损耗的非线性关系,并通过限制受激辐射衰
STED
减的区域,减少荧光光斑大小,获得小于衍射极限的发光点来提高
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