中在200欧姆挡位测量表笔导线电阻为02欧姆如下图所示.DOCVIP

中在200欧姆挡位测量表笔导线电阻为02欧姆如下图所示.DOC

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
中在200欧姆挡位测量表笔导线电阻为02欧姆如下图所示

实验中在200欧姆挡位测量表笔导线电阻为0.2欧姆,如下图所示: 而且多次测量均为这个值,所以认为这个电阻值需要在该200欧姆挡位的测量值中扣除。受此启发接着测量其他挡位的短路电阻,发现在其他档位测量时,除了在200M欧姆档出现异常外,其他档位的读数均为0,。分析显然是因为0.2欧姆的电阻已经小于最低显示位所代表的电阻值了,所以该导线电阻在测量回路中虽然存在,但是不会影响测量结果的读取。 200M欧姆档位的异常情况如下图所示: 始终会出现1M欧姆的读数。关于这个现象,我始终没有从理论上想出什么合理的解释。为此,我更换了多个万用电表,重复了以上的实验。结果表明,前述关于导线电阻在欧姆档测量中的理解是正确的,大多数万用表的导线电阻都在0.2至0.3欧姆之间跳动,使用200欧姆档时,需要在实际测量前测定导线电阻后扣除。但是200M欧姆档的1M欧姆现象一直存在,令人费解。 为了解决疑问,我查阅了该万用电表的说明书。说明书在欧姆档特地阐述了两点:1、200欧姆档使用时确实需要事先测定并扣除导线电阻。2、200M欧姆档测量时由于内部结构的原因一定会出现上述“1M欧姆读数”现象,在实际测量中扣除即可。 二、关于在200M欧姆存在这一电阻的原因,我估计是由于欧姆档的恒流源结构在200M欧姆档时发生了改变,内部存在了1M欧姆的电阻,所以需要改变。而恒流源结构改变的原因在于:欧姆定律! U=I×R 测量中万用电表采用恒流源对外供电,同时根据说明书,万用电表将使用双积分电路对两表笔之间的电压进行采样和转换进而得到电阻值。所以我提出如下假设和推断: = 1 \* GB3 ①为了保证测量的精度,万用电表积分电路对两个表笔之间允许的电压是有限制的,不能过低也不能过高。 = 2 \* GB3 ②所以在切换不同的欧姆档时,随着待测电阻的增大,为了保证两个表笔之间的电压在一个合理的范围内,不同欧姆档位的恒流源对外输出的电流不同。随着档位的升高,根据欧姆定律,恒流源的电流应该在减小。 = 3 \* GB3 ③所以当使用200M欧姆档时,恒流源提供的电流将会很低,而此时将会使得恒流源的负反馈控制结构失效,无法实现极端小的电流的稳恒。为此,万用电表将会换为恒压源进行测量。 = 4 \* GB3 ④同时为了实现该较大电流下,积分采样电路仍然能采集到一个能使用的电压信号,可以采用1M欧电阻分压的方式,通过测量1M欧电阻两端的电压信号,换算出待测电阻和1M欧电阻两端的电压,进而获得待测电阻和1M欧姆电阻串联的总阻值并予以显示。所以才会出现在最终测量值上减去1M欧姆的示数才是真实待测电阻的情况。 为了验证我的想法,我首先想要验证在200欧姆变化至2M欧姆档位时,恒流源的电流要逐级变小。下图是200K欧姆档位的电流表示数:5μA。 可以计算得知,取测量200K欧姆时,理论上两表笔之间的最大电压在1V特。而在20K欧姆档,恒流在50μA(相机没电……无法拍照……),最大电压依旧在1V,应该说,这充分证明了我的第 = 1 \* GB3 ①、 = 2 \* GB3 ②条推论。 关于第3、4条推论,本来想要用欧姆表直接测量另一个欧姆表的,但是考虑在此时两个恒流源并联,加之无法确定内部构造,所以没有贸然行动。希望在一次的实验中设计出合理可行的方案来验证。 三、空间电磁干扰源的来源? 空间电磁干扰(EMI)对精密测控电流的影响是十分明显的。所以我想要探究一下空间电磁干扰的来源。我在实验室尝试去探究电磁干扰,用示波器的探针做探头。发现了两个存在于实验室的干扰源,一个是日光灯,一个是排插。因为在探头靠近的时候,都能观察到明显的波形增大。对于日光灯,在探头水平接近的时候影响较小,垂直接近时影响较大。 下图为我采用的探测方式:将探头靠近排插, 如图所示,EMI在探头上感应出的信号: 下图为距离日光灯管约2米距离的感应信号: 下图为1.5米时的感应信号 下图为约1米时的感应信号

文档评论(0)

ailuojue + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档