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- 2018-12-20 发布于天津
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2集成电路中的晶体管及其寄生效应.ppt
第2章 集成电路中的晶体管及其寄生效应 双极晶体管的单管结构及工作原理 理想本征双极晶体管的EM模型 集成双极晶体管的有源寄生效应 集成双极晶体管的无源寄生效应 MOS晶体管的单管结构及工作原理 MOS集成电路中的有源寄生效应 2.1双极晶体管的单管结构及工作原理 双极器件:两种载流子(电子和空穴)同时参与导电 正向工作区 发射结正偏,发射极发射电子,在基区中扩散前进,大部分被集电极反偏结收集: ( 接近于1) 具有电流放大作用: 1. 发射结正偏,向基区注入电子,集电结也正偏,也向基区注入电子(远小于发射区注入的电子浓度),基区电荷明显增加(存在少子存储效应),从发射极到集电极仍存在电子扩散电流,但明显下降。 2.不再存在象正向工作区一样的电流放大作用,即 不再成立。 3. 对应饱和条件的VCE值,称为饱和电压VCES,其值约为0.3V,深饱和时VCES达0.1~0.2V。 当VBC0 , VBE0时,为反向工作区。工作原理类似于正向工作区,但是由于集电区的掺杂浓度低,因此其发射效率低,很小(约0.02)。 场区寄生MOSFET 寄生双极晶体管 寄生PNPN效应(闩锁(Latch up)效应) 场区寄生M
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