利用红外热像技术检测劣化绝缘子适用性分析研究.PDFVIP

第54卷 第2期：0110-0114 Vol.54，No.2：0110-0114 2018年2月16日 HighVoltageApparatus Feb.16，2018 DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2018.02.018 利用红外热像技术检测劣化绝缘子的适用性分析研究 1 1 1 2 2 付炜平 ， 王 伟 ， 董俊虎 ， 刘云鹏 ， 张凯元 （1.国网河北省电力有限公司检修分公司，石家庄 050071；2.华北电力大学电气工程系，河北保定 071003） 摘要：文中针对某500kV变电站发现的低零值绝缘子缺陷进行了红外热相技术检测劣化绝缘子的适用范围 研究，分析了各个电压等级的盘形绝缘子串中电压分布规律，对劣化绝缘子在不同阻值、不同位置下的发热 情况进行了计算，给出测试盲区的范围和改善方法。现场测试表明，该方法使红外热像技术在适用范围内 检出劣化绝缘子的概率明显提高。 关键词：红外热像技术；劣化绝缘子；适用性；低值绝缘子；零值绝缘子 StudyontheApplicabilityofDetectingDeteriorationInsulatorBasedon InfraredThermalImage 1 1 1 2 2 FUWeiping ，WANGWei ，DONGJunhu ，LIUYunpeng ，ZHANGKaiyuan （1.StateGridHebeiMaintenanceBranch，Shijiazhuang050071，China； 2.NorthChinaElectricPowerUniversity，HebeiBaoding071003，China） Abstract: Thispaperintroducesawayofdetectingzeroandlowresistanceinsulatorsdefectsina500kVsubstation andstudiestheapplicabilityofinfraredthermalimagetechnologyusedindeteriorationinsulatortestarea.Thevolt⁃ agedistributionoftheinsulatorstringsamongvariousvoltagelevelsareanalyzed，theheatproducedbythedeteriora⁃ tioninsulatorsunderdifferentresistanceandlocationarecalculated，theboundaryofblindzoneofdetectionanda newfieldtestmethodareproposed.Practicaltestsshowthatthenewmethodmakethesuccessrateofdetectionbased oninfraredthermalimagetechnologyimproveremarkablyinitsapplicablerange. Keywords:infraredthermalimagingtechnology；deteriorationinsulator；applicability；lowresistanceinsulator；zero resistanceinsulator 侧第5片钢帽温升0.9K，见图2。怀疑此2片盘式绝 0 引言 缘子存在缺陷情