彰化师范大学物理系暨光电所高解析度穿透式电子显微镜管理办法.PDFVIP

彰化師範大學物理系暨光電所高解析度穿透式電子顯微鏡管理 辦法 96 年 3 月 1日物理系務會議通過 修正 97 年 3 月 14日物理系務會議通過 一、本辦法依教育部頒布之「建教合作實施辦法」暨國立彰化師範大學 建教合作實施要點第二條第二項 規定訂定。 二、穿透式電子顯微鏡簡介 ： 1.儀器中文名稱：穿透 式電子顯微鏡 2.儀器英文名稱：TRANSMISSION ELECTRIC MICROSCOPE 3.儀器英文簡稱：TEM 4.儀器設備說明： 儀器購置日期： 91 年12月 26日 儀器設備管理維護單位：彰化師 大物理系暨光電所 儀器放置地點：格致館 2F 22210 室 儀器廠牌：日本 JEOL Co.Ltd 儀器型號： JEM-2010  加速電壓： 80 ，200KV 。  放大倍率： 50 倍 至 150萬倍。 解析度： 0.25nm （Point Resolution ）， 0.14nm （Lattice Resolution ） 。 燈絲：單晶六硼化鑭（ LaB 6 ）。 試片傾斜角度： ± 35 度。  主要附件：掃描影像觀察原件（Scanning Image Observation Device ），能量分散光譜儀 （EDS ）。  EDS廠牌： England 英國製 EXFORD  EDS型號：Inca X-Stream  CCD廠牌： USA 美國製 GATA  CCD型號：831.20B1SC600 2.7K X 2.7K(7Mpixels) 三、服務項目： 1. 材料試片表面組織、斷面、微細組織、晶體結構、及缺陷之觀察量測。 2. 備有精準離子拋光系統等 TEM試片處理用周邊設備，供使用者薄化各種試片。 四、樣品準備須知 ： 1.試片之製作由使用者自理 ，磁性粉末、高揮發性、腐蝕性及易碎裂試片等會污染顯微鏡腔體之樣 品禁止使用。 2.樣品需乾燥，在真空中無揮發性。在電子束照射下會分解或釋放氣體之樣品，因有礙必要之真空 維持，恕不受理。 3.試片：直徑 3mm 大小，0.2mm 以下厚。 4.研磨、拋光、打薄、鍍膜等及生物樣品乾燥等需自行處理，鍍碳之碳膜 銅網或銅環等材料請自備 。 5.樣品欲使用氬 離子打薄機者須受儀器操作訓練後使用，試片須減薄至顯微鏡下有彩雲線並可透黃 光約100nm 以下厚 。 6.本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性及低熔點等之試件。 - 1 - 五、申請使用辦法 1.預約方式  於拍攝一週前 至物理系辦公室承辦 人員接洽相關事宜 。 若欲取消或更改日期請於拍攝前 一天通知 ，未依規定先行通知者應支付開機費 。  於預約時段內遲到半小時，則該預約視為放棄，由其他使用者替補，不得異議 。 2.使用方式 :  本機台之使用要經受訓及本系檢定合格方得操作 。 六、開放時段 週一至週四 上午9:30-12:30下午 1:30-16:30 。（週五機台保養，週六、日與國定假日放假） 七、檢測費用 使用別 本系所使用者 校內使用者 外校使用者 產業檢測 說明 開機費 600 元 800 元 1000 元 3000 元 使用費 300 元/hr 400 元/hr 600 元/hr 1000 元/hr 繳開機費第 1 小時免使用費 底片 70 元張/ 80 元張/ 90 元張/ 100 元張/ EDS 100/次 200/次 200/次 1000/次 未滿