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晶体取向与多晶体织构 晶体投影 晶体取向 晶体学织构 X射线衍射法测织构 极图分析 取向分布函数 取向分布函数计算原理 织构分析 晶 体 投 影 概念：把三维晶体结构中的晶向和晶面位置关系和数量关系投影到二维平面，称为晶体投影。 目的：为了方便地研究晶体中各晶向、晶面、晶带以及对称元素之间的关系。 种类：有球面投影、极射赤面投影、心射投影等。 晶 体 投 影 球面坐标的标记 晶向、晶面之间的角度关系通过球面上的经纬度表示，类似于地球仪。 有经线、本初子午线、纬线、赤道。 任一经线与本初子午线间夹角叫经度，用?标记。本初子午线的经度为0?。 晶 体 投 影 2、极射赤面投影 将球面投影再投影到赤道平面上去的一种投影。 投影方法如图所示。 晶 体 投 影 3、标准投影：选择晶体中对称性高的低指数晶面，如（001）、（011）等作为投影面，将晶体中各个晶面的极点都投影到所选的投影面上，这样的投影图称为标准投影图。 晶 体 投 影 晶 体 投 影 晶 体 投 影 晶 体 投 影 4、极射投影上晶面（向）位向关系的度量 极式网：将经纬线坐标网，以它本身的赤道平面为投影面作极射赤面投影，所得的极射赤面投影网。它不能测量落在不同直径上的点之间角度。 吴里夫网：将经纬线网投影到与经纬线网NS轴平行的投影面上，作出的极射赤面投影网。 标准极式网和吴氏网直径为20cm，大园弧与小圆弧互相均分的角度间隔为2?。 晶 体 投 影 晶 体 投 影 5、吴氏网的应用 晶 体 取 向 晶 体 取 向 1、晶体取向的一般定义方法 晶 体 取 向 2、晶体取向的表达方式 晶 体 取 向 Bunge定义的欧拉角：从起始取向出发，按?1、?、?2的顺序所作的三个转动，可以实现任意晶体取向，因此取向g可以表示成： g=(?1，?，?2） 显然对于起始取向e有： e=(0, 0, 0) 晶 体 取 向 两种取向表达式的换算关系为： 晶 体 学 织 构 单晶体在不同晶体学方向上的力学、电学、磁学、光学、耐腐蚀甚至核物理等方面的性能表现出显著差异，称为各向异性。 多晶集合体在宏观不同方向上表现出各种性能相同的现象称为各项同性。多晶体中数目众多的晶粒无序均匀分布是其各向同性的组织结构保证。 在一般多晶体中，每个晶粒有不同于相邻晶粒的结晶学取向，从整体上看，所有晶粒的取向是任意分布的；在某些情况下多晶体的晶粒在不同程度上围绕某些特殊的取向排列，就称为择优取向或织构。 晶 体 学 织 构 2、织构的种类 晶 体 学 织 构 3、织构的表示方法 晶 体 学 织 构 晶 体 学 织 构 晶 体 学 织 构 （2）织构的极图表达 晶 体 学 织 构 晶 体 学 织 构 X射线衍射法测织构 极密度分布：把球面上每个投影点所代表的晶粒体积作为这个点的权重，则这些点在球面上的加权密度分布称为极密度分布。球面上极密度分布在赤面上的投影分布图称为极图。 极密度定义： X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 极图最早是利用单色x-射线衍射照片确定的，有织构的材料的衍射环强度分布不均匀，局部出现最大值。欲将衍射照片转换成极图需要丝或板相对入射线方位不同的一系列衍射照片。 现在，这种技术已经完全被配有计数器的衍射仪所代替，并由Schulz最早发明。测试装置为织构测角仪，能使试样在几个方向转动，以便使每个晶粒都有机会处于衍射位置。一般说来，与该种方法对应的极图上点的轨迹是螺旋状的，通过计算机程序，计数器的计数直接转换成极图上极点强度计数，并自动插入等强度值，所需的各种修正均自动完成。 这种装置不仅可以以反射方式工作，也可以透射方式工作。每种方式只能给出极图的一部分，反射法给出极图的中心部分，透射法给出极图的边缘部分，将两种方法相互补充就可以得到一张完整极图。 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 X射线衍射法测织构 极 图 分 析 极图给出的是试样中各晶粒的某一晶面在试样外观坐标系中的投影，必须再通过分析才能给出织构的类型和数量。 分析织构的类型，称为定性分析； 分析织构的离散度和各织构组分的百分数，称为定量分析。 定性分析采用尝试法：将所测得的{HKL}极图与该晶体的标准投影图（立方晶系通用）对照，找到标准投影图中的{HKL}点全部落在极图中极密度分布集中区的标准投影图，此标准投影图中心点的指数即为轧面指数(hkl)，与极图中轧向