一种变异测试中冗余变异体的寻找方法-电子学报.PDF

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一种变异测试中冗余变异体的寻找方法-电子学报

第8期 电  子  学  报 Vol.45 No.8 2017年8月 ACTAELECTRONICASINICA Aug. 2017 一种变异测试中冗余变异体的寻找方法 1,2,3 1,2,3 1,2,3 4 钱茛南 ,王雅文 ,宫云战 ,孟凡荣 (1.北京邮电大学网络与交换技术国家重点实验室,北京 100876;2.桂林电子科技大学广西云计算与 大数据协同创新中心,广西桂林541004;3.桂林电子科技大学广西高校云计算与复杂系统重点实验室, 广西桂林541004;4.长春汽车工业高等专科学校,吉林长春 130013)   摘 要: 变异测试是一种有效的基于故障的测试方法,但大量冗余变异体所带来的昂贵的测试成本问题,阻碍了它在 实际工程开发中的应用.为解决该问题,本文针对程序中的顺序语句所产生的变异体,基于故障的可达感染传播模型,提出 了使用区间抽象域来表示程序状态,通过区间运算判断变异体之间冗余关系的算法;针对程序中的条件语句,基于谓词故障 层级,分别给出了面向简单谓词和复合谓词的冗余变异体选择算法.并对这两种算法对冗余变异体的判定效果进行了分析, 最后给出了在分层抽样背景下,非冗余变异体生成的约束边界条件.对Siemens和开源项目等共8个工程进行了实验,并与 随机选择法进行了对比.结果表明,本文所提方法在减少变异测试时间成本的同时,可以保持较高的变异得分. 关键词: 变异测试;变异算子;冗余变异体;变异成本;变异体约减 中图分类号: TP311   文献标识码: A   文章编号: 03722112(2017)08197006 电子学报URL:http://www.ejournal.org.cn  DOI:10.3969/j.issn.03722112.2017.08.023 AMethodforFindingRedundantMutantsinMutationTesting 1,2,3 1,2,3 1,2,3 4 QIANGennan ,WANGYawen ,GONGYunzhan ,MENGFanrong (1.StateKeyLaboratoryofNetworkingandSwitchingTechnology,BeijingUniversityofPostsandTelecommunications, Beijing100876,China;2.GuangxiCooperativeInnovationCenterofCloudComputingandBigData,GuilinUniversity ofElectronicTechnology,Guilin,Guangxi541004,China;3.GuangxiCollegesandUniversitiesKeyLaboratoryof CloudComputingandComplexSystems,GuilinUniversityofElectronicTechnology,Guilin,Guangxi541004,China; 4.ChangchunAutomobileIndustryInstitute,Changchun,Jilin130013,China) Abstract: Mutationtestingisaneffectivefaultbasedtestingmethod.However

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