第6章数字技术基础实验资料.docVIP

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  • 2018-12-28 发布于湖北
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第6章 数字电子技术基础实验 6.1 逻辑门电路功能及叁数的测试 6.1.1 实验目的 1 掌握TTL门电路逻辑功能的测试方法。 2 了解TTL与非门主要参数的含义及测试方法。 3 掌握数字集成芯片的使用,学习检查集成芯片的好坏。 6.1.2 1 示波器; 2 直流稳压电源; 3 数字电路实验箱; 4 万用表; 6.1.3 1 门电路逻辑功能的测试 TTL逻辑门电路系列有很多不同功能、不同用途的逻辑门电路。通过实验的方法逐项验证其真值表,测试其逻辑功能。同时,根据逻辑功能是否正确,可以初步判断集成芯片的好坏。 2 TTL与非门主要参数 (1) 输出高电平电压UOH :输出高电平电压UOH是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时,UOH必须大于标准高电平(USH=2.4 V),测试电路如图6.1.1所示。 (2) 输出低电平电压UOL :输出低电平电压UOL是指与非门所有输人端都接高电平时的输出电平值。空载时,UOL必须小于标准低电平(USL=0.4V),测试电路如图6.1.2所示。 图6.1.1 测试UOH电路 图6.1.2 测试UOL电路 3)输入短路电流IIS : 输入短路电流IIS是指与非门被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测端

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