犡射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整.PDFVIP

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犡射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整.PDF

犡射线荧光光谱法分析矿石样品时 工作曲线的精确调整 申卫龙 (巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心,临河 015000) 摘 要:应用 射线荧光光谱法分析了矿石样品。将粉碎至粒径为 的矿样用模压法 X 0.088mm   在32MPa压力条件下加压40s,压制成直径为40mm,厚度为3mm的片样。试验从生产线上选 取 个各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应,并选用一组已知样品制作工作曲 15 线。以 型 射线荧光光谱仪所附带的 软件中的校正公式,通过化学计量学 MXF2400 X PCMXFE 处理,包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等,达到了 射线荧光光谱法分析矿石样品时工 X 作曲线的精确调整。应用此方法分析了 组地质样品,所测定的铜、铅、锌 种元素的含量与化学 3 3 法所测得的结果完全一致,又用同一样片对其中的 项组分进行 次测定,所得测定值的相对标准 5 6 偏差均小于 。 1% 关键词:X射线荧光光谱法;工作曲线;精确调整;矿样 中图分类号: 文献标志码: 文章编号: ( ) O657.34 A 10014020201306067304         犘狉犲犮犻狊犲犪狀犱犃犮犮狌狉犪狋犲犆犪犾犻犫狉犪狋犻狅狀狅犳犠狅狉犽犻狀 犆狌狉狏犲狊犻狀犡犚犉犛 犵 犃狀犪犾狊犻狊狅犳犗狉犲犛犪犿 犾犲狊 狔 狆 犛犎犈犖犠犲犻犾狅狀犵 ( , , , , ) 犙狌犪犾犻狋犐狀狊犲犮狋犻狅狀犆犲狀狋狉犲 犅犪犪狀狀犪狅犲狉犠犲狊狋犆狅 犲狉犆狅.犔狋犱.犔犻狀犺犲015000犆犺犻狀犪 狔 狆 狔 狆狆 : 犃犫狊狋狉犪犮狋Oresam leswereanalzedbXRFS.Discsam leswith40mmindiameterand3mminthickness p y y p ( ) wererearedb ressin ofsam leowderwithsizeof0.088mm withmouldin ressunder32MPafor40s. p p yp g p p gp Sam leswithcomonentsinmassfraction radientswereselectedfrom roductionlinestoovercomethematrix p p g p

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