《基于Multisim的电路容差分析》-毕业学术论文（设计）.docVIP

PAGE l l 分类号： TM133 西安文理学院学士学位论文 基于Multisim的电路容差分析 系 院 名 称 物理学与光电工程系 指 导 老 师 学 生 姓 名 学 生 学 号 专 业、班 级 物理学0801 提 交 时 间 2012年5月 基于Multisim的电路容差分析 （西安文理学院物理学与光电工程系，西安，710065） 摘 要：随着电子产品的发展，对电子产品做电路容差分析已成为电路设计过程中的重要步骤。在容差分析过程中为了达到高质量、高可靠、低成本、周期短的目的，用电子电路仿真软件已成为分析电路容差的一种有效方法。本文讲述了电路容差分析的必要性和其分析原理，并举例说明用Multisim 10进行最坏情况分析和蒙托卡诺分析的具体方法和步骤。 关键词：容差分析；最坏情况分析；蒙托卡罗分析；Multisim The Analysis of Circuit Tolerance Based on Multisim Zhao Xiaoyan (Department of Physics and Opto-Electronic Engineering, Xian University of Arts and Science, Xian, 710065) Abstract：With the development of electronic products, the circuit tolerance analysis has become an important step in the process of the circuit design. The software of electronics workbench is applied in order to achieve higher quality, higher reliability, lower cost, shorter cycle. Worst Case analysis and Monte Carlo analysis with software of Multisim has been introduced in this paper. Two typical examples were given, at same time the method and analysis steps were expounded in detail． Key Words: Circuit tolerance analysis, Worst Case Analysis, Monte Carlo Analysis, Multisim 1 引言 众所周知，由于制造工艺和使用条件的原因，任何电子产品都不可避免地会受到随机扰动因素的影响，从而使实际电路中的元器件参数[1]和其标称值之间总是存在随机误差。这就意味着，实际电子电路中元器件参数的实际数值不一定等于其标称值[2]，而只是其标称值容差范围内的一个随机数值。而我们在设计电路过程中往往都是采用元器件参数的标称值进行分析和设计，因此，设计的电路和实际生产制造出的电子产品性能之间必然存在着差别。而且，电子产品在使用的过程中随着使用时间的增加和环境温度的变化，也会使这种差别进一步扩大。在严重的情况下，这种偏差可能会达到影响电子产品的正常使用的程度，从而造成电子产品的功能失效。另外，电子元器件的参数容差和电子产品的经济成本直接相关。通常，元器件的精度越高，其误差范围越小，价格也会越高[3]。总而言之，电子产品的性能和价格与所采用的元器件的参数容差密切相关，我们在设计电子产品时只有充分考虑这一因素，才能设计出高可靠的，具有竞争力的电子产品。 然而，由于这种误差所服从的是一种概率统计规律，在产品的研制过程中，我们很难通过传统的人工设计方法来全面地考虑元器件参数容差对产品性能的影响。随着计算机的迅速发展，各种EDA技术也得到了广泛的应用，电路设计者可以应用这些软件对电路进行各种分析，计算和仿真。不仅能使设计者的设计达到高质量、高可靠性，而且可以降低成本，缩短开发周期[4]。NI公司的Multisim就是得到广泛应用的一种电路模拟仿真软件，它由于收敛性好，适于做系统及电路级的仿真，又有微机版本，在国内得到了广泛的应用。对于电路的容差分析，Multisim提供了蒙特卡罗分析和最坏情况分析两种方法来分析电路中元器件参数数值变化对电路性能的影响。 2 容差分析的基本原理 系统性能不稳定或发生漂移、退化的原因有三种：一是组成系统的元器件参数通常是以标称值表示的，实际却存在着公差。忽略公差，电路参数可能超出允许范围，发生参数偏差：二是环境条件，如温度的变化会使电子