Q_HAHSD-0033-2018HY-ZN-ZK型智能集成处理器.pdf

N95 Q/HD 华云升达（北京）气象科技有限责任公司企业标准 Q/HAHSD 0033—2018 HY-ZN-ZK 型智能集成处理器 2018-06-20 发布 2018-06-21 实施 华云升达（北京）气象科技有限责任公司 发 布 Q/HAHSD 0033—2018 目 次 目 次 I 前言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 产品命名 1 4 产品组成 2 4.1 硬件组成 2 4.2 软件组成 3 5 技术要求 3 5.1 外观要求 3 5.2 环境适应性 4 6 试验方法 6 6.1 试验环境条件 6 6.2 试验仪器仪表 6 6.3 外观检查 6 6.4 测量性能测试 6 6.5 环境条件试验 7 6.6 安全性 8 6.7 电源适应性试验 8 6.8 雷电冲击试验 8 6.9 电磁兼容性试验 8 6.10 可靠性 8 6.11 可维护性 9 7 检验规则 9 7.1 检验分类 9 7.2 检验分组 9 7.3 检验项目 9 7.4 检验设备 10 7.5 缺陷的判定 10 7.6 定型检验 10 7.7 出厂检验 11 8 标识、包装、运输、贮存 12 8.1 标识 12 8.2 包装 12 8.3 贮存 13 I Q/HAHSD 0033—2018 前 言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准由华云升达（北京）气象科技有限责任公司工程技术中心提出并起草。 本标准由华云升达（北京）气象科技有限责任公司质检中心归口。 本标准主要起草人：张天宇。 本标准于2018年6月首次发布。 II Q/HAHSD 0033—2018 HY-ZN-ZK 型智能集成处理器 1 范围 本标准规定了HY-ZN-ZK型智能集成处理器的组成、技术要求、试验方法、检验规则，以及标识、包 装、运输、贮存和成套性。 本标准适用于HY-ZN-ZK型智能集成处理器的设计、生产、检验和验收。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T191-2008 包装储运图示标志 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验A ：低温 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验B ：高温 GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2 部分：试验方法 试验Ea 和导则：冲击 GB/T 2423.8- 1995 《电工电子产品环境试验第2 部分：试验方法 试验Ed ：自由跌落》