数字图像处理技术在扫描电化学显微镜中的应用-分析化学.PDF

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数字图像处理技术在扫描电化学显微镜中的应用-分析化学

第46卷 分析化学 (FENXI HUAXUE)摇 研究报告 第3期 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 摇 2018年3月 ChineseJournal of Analytical Chemistry 342~347 DOI:10.11895/j.issn.0253鄄3820.171418 数字图像处理技术在扫描电化学显微镜中的应用 1,2 2 *3 2 3 *1 王 伟 摇 刘振邦摇 包 宇 摇 关怡然摇 牛 利摇 张国玉 1 2 (长春理工大学光电工程学院,长春 130022)摇 摇 (中国科学院长春应用化学研究所,长春 130022) 3(广州大学化学化工学院分析科学技术研究中心,广州510006) 摘摇 要摇 扫描电化学显微镜(SECM)使用超微电极作为探针,由于发生在探针电极上的氧化还原反应是一个 扩散过程,探针电极在快速移动过程中会对扩散过程产生影响,导致 SECM 图像变得不清晰。 本研究采用 LoG算法与NEDI插值算法相结合的图像处理技术对获得的SECM 图像进行处理,LoG算法可以提高SECM 图像的清晰度,但会导致图像中部分边缘信息丢失,利用基于边缘导向插值的NEDI算法对后续图像进行处 理,可以很好地解决这个问题。 采用离子溅射方法制备了金叉指电极和金点阵电极两种基底,对金叉指电极 基底、金点阵电极基底和印有指纹的ITO基底进行了SECM成像,通过对3种基底的SECM原始图像、LoG变 换后的图像和NEDI插值后的图像进行比较分析,表明LoG算法与NEDI插值算法结合在一起的图像处理技 术可以明显提高SECM 图像的清晰度和分辨率。 关键词摇 扫描电化学显微镜;图像处理;LoG算法;NEDI插值 1摇 引言 [1~3] 1986年,Bard等 结合超微电极在电化学研究中的优势,提出扫描电化学显微镜(SECM)技术, 并得到迅速发展,弥补了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)不能提供电化学信息的不足, 分辨率介于普通光学显微镜和STM之间。 SECM是在一个高的时间与空间分辨率下,通过电化学控制 测量技术,研究界面微区空间的化学组成、结构、性质和行为的电化学现场检测仪器。 它基于电化学原理 工作,利用非常小的探针靠近样品表面,在包含电活性物质的溶液中进行循环成像扫描,可测量微区内物 质氧化或还原所给出的电化学电流,从而获得被测样品的电化学相关信息,样品可以是导体、绝缘体或半 [4~7] 导体,目前可达到的最高分辨率约为几十纳米 。SECM 由于使用超微电极作为探针,不但可以研究探 头与基底上的异相反应动力学及溶液中的均相反应动力学、分辨电极表面微区的电化学不均匀性、给出 导体和绝缘体表面的形貌,而且还可以对材料进行微加工,研究许多重要的生物过程等[8~11]。 SECM成像的分辨率主要取决于探针的尺寸、探针的步进分辨率以及由基底特性决定的探针电流的变 化。 探针电极上的稳态电流一般是溶液成分、探针鄄基底之间的距离和基底本身性质的函数。 由于发生在 探针电极上的氧化还原反应是一个扩散过程,使得电流信号中包含了高斯模糊噪声。 另外SECM一般采 用逐行扫描方式,探针在快速的移动过程中也会对探针附近微区内的溶液状态产生影响,进而影响微区内 [12] 溶液的电化学扩散过程,导致探针电极上的稳态电流发生变化,使获得的SECM图像变得模糊 。 数字图像处理技术已广泛地应用于STM 中,包括滤波技术、利用傅

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