广工传感器实验报告.docxVIP

传感器技术及应用实验 实验一 金属箔应变片及转换电路性能 实验项目名称：金属箔应变片及转换电路性能 实验项目性质：普通实验 所属课程名称：传感器原理与设计 实验计划学时：2学时 实验目的 了解应变片的测试原理和应用领域； 掌握应变片测试方法及典型转换电路原理； 通过实验数据分析处理，掌握获得传感器静态性能特性指标的过程和方法。 实验内容和要求 观察金属箔式应变片的结构，贴片方式以及桥接方式； 测量应变梁形变的应变输出； 比较应变片不同桥接方式对电桥输出结果的影响； 进行实验前，先预习附录一“CYS型传感器系统综合实验仪使用指南”，了解该设备的基本结构与组成。 实验主要仪器设备和材料 CYS型传感器系统综合实验仪 本次实验所用模块包括：①悬臂梁及金属箔式应变片；②电桥模块；③差动放大器；④直流稳压电源（±4V档）；⑤测微头；⑥毫伏表。 导线若干 万用表 实验方法、步骤及结果测试 一）、实验原理 应变片是最常用的测力传感元件，当使用应变片进行测试时，首先要将应变片牢固地粘贴到测试体表面。当被测件受力发生形变，应变片敏感栅也同时变形，其阻值也随之发生相应变化。之后，再通过测量转换电路，将电阻值变化转换成电压输出信号显示。 直流电桥是最常用的一种电测转换电路。当电桥的相对臂电阻阻止乘积相等时，电桥平衡，此时电桥输出电压为零。若设电桥桥臂四个电阻的初始值分别为：R1=R2=R3=R4=R,当测试体表面发生形变，则其电阻的相对变化率分别为△R1/R1、△R2/R2、△R3/R3、△R4/R4。当使用一个应变片时，可组成半桥单臂电桥，则有U0=U4△R 通过本次实验，可以验证说明箔式应变片组成半桥单臂，半桥双臂电桥和全桥的原理及工作性能。 电路图; 二）实验步骤及结果测试 1、仪表及电路调零 任何测试仪器或仪表，在使用前均需调零。本实验需要调零的部件是毫伏表，直流电桥和差动放大器。 ①毫伏表调零。将综合试验仪上的毫伏表输入端对地短接，调整“调零”电位器，使指针居“零”位，拔掉短接线指针有偏转是有源指针式电压表输入端悬空时的正常情况。调零后关闭仪器电源。 ②差动放大器调零。开启仪器电源，将差动放大器的“﹢、﹣”输入端用实验线对地短路，放大器输出端接毫伏表或数字电压表，用“调零”电位器调整差动放大器输出电压至零，然后拔掉短接实验线。 2、半桥半臂接桥方式测试 ①接桥。按图1半桥单臂电桥测试接线原理图，将实验模拟块用实验线连接成测试电桥。桥路中R1、R2、R3和WD为电桥中的固定电阻和直流调平衡电位器，R为箔式应变片。直流激励电源为±4V。 ②测微头置位。测微头装于悬臂梁前端的永久磁钢上。初始时，测微头一般位于悬臂梁上方，不与梁接触。测微头置位，即是调节测微头旋转，通过顶杆使应变梁处于基本水平状态。此时可认为悬臂梁上的应变片不受力，其电阻为应变片的初始值。 ③直流电桥平衡调整 确定按图1接线无误后，开启仪器电源，并预热数分钟。调整直流电桥WD电位器，使测试系统电压输出为零。此时可认为电桥处于平衡状态。 ④加载测试 旋动测微头，带动悬臂梁分别向上或向下移动，以水平状态下输出电压为零。测微头每转一圈，对应垂直移动0.5mm，相应记录差动放大器的一个输出电压值。向上或向下各移动5mm，记录十组数据，记录下表： 位移x(mm) 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 电压U(mV) 4 9 12 16 20 24 29 33 36 40 以与①相反的旋转方向（反向加载），用同样的方法测试，记录数据，填入下表： 位移x(mm) 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 电压U(mV) -5 -8 -12 -16 -20 -23 -27 -30 -34 -38 3、半桥双臂桥接方式测试 保持差动放大器增益不变，将R1换成为与应变片R工作状态相反的另一应变片，形成半桥双臂电桥，调好零点，用同样方法测出数据，填入下表： 位移x(mm) 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 电压U(mV) 6 12 18 26 32 40 46 54 61 68 4、全桥接桥方式测试 保持放大器增益不变，将R3，R2两个电阻换成另两片应变片，接成一个直流全桥电路，调好零点，将测出数据填入下表： 位移x(mm) 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 电压U(mV) -14 -28 -40 -54 -68 -81 -94 -104 -118 -130 实验报告要求 实验报告格式严格按照广东工