光学元件技术要与检验国际新标准.pptVIP

光学元件技术要求国际新标准及其在我国推行与研究现状 ; 概况 背景 基本内容及简要说明 值得关注的若干问题 推行及研究现状 结论 ;概 况; 学习基本内容;2.背景;起草与颁布 ? ISO/TC172/SC1/WG2/于1979年起草 “光学制图表示法” ?定名为ISO10110 ?依据DIN3140 差异 *表面粗糙度;*干涉波面描述;….. ?1980年4月16日通过 ?1996年发布1,2,3,5,6,7,9,10 1997年发布4,8,11,12,13;ISO10110; 该标准文件全面制定了用于光学加工与检验光学元件及系统的技术图纸绘制及其技术要求的总的技术规范。;3. 基本内容与说明 3.1 基本内容 ISO10110包括十三个部分，大致分四个方面： 第一，一般规范：Part1 概述 第二，光学材料缺陷，包括： Part2 应力双折射 Part3 气泡与杂质 Part4 非均匀性与条纹 ; 第三，表面特性，包括： 　　 Part 5 表面面形偏差 　　 Part 6 中心偏差 　　 Part 7 表面缺陷公差 　　 Part 8 表面微观轮廓 第四，其他规定，包括： 　　Part 9 表面处理与镀膜 　　Part10 透镜元件数据的列表表示 　　Part11 非公差数据 　　Part12 非球面 　 Part13 激光辐射损伤阈值;3.2 一般规范 基本规定：波长：546.07nm 单位：mm 温度：22°±2° 视图：阴影线；无阴影线 轴线 ：旋转轴中心线 光轴 尺寸方面：曲率半径：R?， Rcx，Rcc，Rcy 特别注意直径或标出?e 倒棱: ;材料说明：一般说明：厂家玻璃类型 国际玻璃编码 折射率与阿贝数 材料特性：折射率公差 透过率 均匀性 条纹等 附加说明：倍率 视场 焦平面等17项;3.3 列表说明各部分内容 ;;;;;3.4 其它部分;关于非公差数据 Part 11给出一系列数据 Leica公司也给出一系列参考数据;关于非球面;4. 值得关注的若干问题 4.1 分级相反的规定 材料缺陷-非均匀性及条纹的分级与国 内标准分级含义恰恰相反。 ISO 国标 数字小 数字小 值大（差） 值小（高） Schotl、Hoya都如此见附录4.1 ;附录4.1 国标光学均匀性及条纹度;附录 4.2 几家公司材料非均匀性标准的比较; 附录 4.3 用Δn=eλ/t 求解材料厚度、均匀性及波前畸变的关系。 ;4.2 关于表面形状偏差;4.2.1 被测表面偏差分解与A、B、C;4.2.2 3/…与USA用法的关系;4.2.3 PV，Power与3/…关系 PV— 相当于3/A （B/C）RMSX中的 “B”(去除球面)、“C”（去除非球面）值； RMS— 相当于3/A （B/C）RMSX中的“RMSX”；x=t, i, a Power— 相当于3/A （B/C）RMSX中的“A”。