高频电路实验讲义..doc

PAGE PAGE 10 预备实验 高频电路实验常用仪器使用方法 实验目的 学习并掌握高频电路实验常用仪器的使用方法。 二、实验仪器 图0—1 示波器面版图 图0—1 示波器面版图 2．扫频仪（频率特性测试仪） 3．频率计（计数器） 4、DVCC—GPI实验箱 三、仪器使用简要说明 （一）、双踪示波器测信号波形及参数 的使用方法 MOS620、双踪示波器面版排列见图0—1所示 （1）单踪测量方法： 1、、将Y输入CHI和CH2置 接地位置GND。 2、所有按钮×10 MAG、ALT CHOP、CH2 INV、TRIG ALT、SLOPE都在跳起位置。 3、选择开关MODE在AUTO位置。 4、展宽钮SWP、VAR 顺旋到底。 5、灵敏度微调钮顺时旋至关的位置。 6、打开电源开关POWER，指示灯应亮。 图02 频率计面版图7、调整亮度钮INTEN、聚焦钮FOCUS、水平移位钮POSITION、垂直移位钮POSITION▲▼屏幕上应显示清晰的水平扫描线。 图02 频率计面版图 8、系统选择键MODE打在CH1或CH2位置，同步选择键也打在对应的CH1或CH2位置。由Y输入CHI或CH2输入待测信号。适当调整Y输入CH1或CH2对应的灵敏度调整钮VOLTS/DIV使信号幅度峰—峰值不超过6格。（有可能不是完整波形，是一片阴影也可）。 9、估算信号频率、周期，调整周期调整钮TIME/DIV，同时微调同步调整钮LEVEL，使屏幕上显示一个或几个稳定、完整的信号波形。 （2）双踪测量方法： 1、两信号f（或T）必须相同或成整倍数。 2、系统选择键MODE打在OUAL位置。 3、同步选择键打在CH1或CH2位置，原则是：选择两输入信号中幅度较大、较稳定的一个。 4、其他调整方法同上。 （3）读数： 1、信号幅度峰—峰值=信号波形峰峰格数×灵敏度指示值V（或mV）/格 2、信号周期=波形水平方向所占格数×周期钮指示值ms（或ūs）。频率为周期的倒数。 （二）、频率计（计数器）测频率的使用方法 1、SP1500C型多功能计数器面版排列见图0—2所示： 2、打开电源开关17，测试数据显示窗口1和指数显示窗口2应有显示数据。 3、、信号频率f＜100MHz时由A通道输入插座4输入信号，同时按下频率A按钮。 而信号频率f＞100MHz时由B通道输入插座3输入信号，同时按下频率B按钮。 4、按下闸门选择按钮7—10中一个，使显示数据的闪动周期合适。 5、测试数据显示窗口1所显示的数据（一般6—8位），前几位固定，为有效位，后几位闪动，为无效位。待测信号f=显示数据*指数（Hz）。 6、若测试数据显示窗口1所显示的数据全部闪动，则原因为其一：输入的信号为非周期性信号或干扰信号；其二：输入的信号幅度太小，应将衰减开关6置*1位置或增大输入信号。 图03 扫频仪面版图 7、若测试数据显示窗口1所显示的数据全固定不变，则无输入信号。 图03 扫频仪面版图 （三）、扫频仪（频率特性测试仪）测幅频特性的使用方法 1、BT3C—RF宽带扫频仪面版排列见图0—3所示： 2、按下电源开关1，衰减指示10应显示一任意数值。 3、根据需要按下频标方式按键13和扫频方式按键14的“50MHz”、“全扫”或 “10.1MHz”、“窄扫”一对按钮，一般使用“10、1MHz”、“窄扫”。 4、使Y轴显示方式按键15在“AC”位置。 5、调整亮度调整钮2、X移位调整钮3、Y移位调整钮18，屏幕5上应显示一条水平亮线,该线为频率轴。 6、调整频标幅度钮11，使频标幅度符合要求。使用“10、1MHz”、“窄扫”时，两频标点之间的频宽为1MHz。 7、逆时方向调整中心频率调整钮7，可找到一个特株的频标点,该点即为频率轴的原点. 调整中心频率调整钮7使待测电路的中心频率f在显示扫描线中心。 8、将RF输出接口17的信号线探头接在待测电路输入端，Y输入接口18的信号线探头接在待测电路输出端。 9、适当调整粗衰减按键8（‘+’键、每按一下增大衰减量10dB，‘—’键、每按一下减小衰减量10dB）。适当调整细衰减按键9（‘+’键、每按一下增大衰减量1dB，‘—’键、每按一下减小衰减量1dB）。适当调整Y增益钮16。在屏幕5上便可得到需要的波形。 10、特别注意：若显示的波形杂乱，则为扫频信号幅度太大所致，应调整粗（细）衰减按钮8（9），使扫频仪输出信号减小，而调整Y增益钮16时无效。 四、实验内容与步骤 （一）、参考频率计（计数器）测频率的使用方法